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金相試樣顯微鏡下晶粒尺度的量測方法簡介

比較法
(a)主要用在晶粒尺度如附圖所示標(biāo)準(zhǔn)相片晶粒尺度范圍內(nèi)的完全退火材料。輕度冷加工者，亦可適用。
(b)晶粒尺度的測定：將試片顯微鏡影像或相片與附圖75倍之標(biāo)準(zhǔn)相片進(jìn)行比較。
  標(biāo)準(zhǔn)相片的晶粒尺度是以面積法求之。
(c)使用75倍率之標(biāo)準(zhǔn)，應(yīng)用其他倍率時(shí)，先與附圖之標(biāo)準(zhǔn)相片中相對應(yīng)之相片比較，
  再依表1換算成實(shí)際晶粒尺度。例如：使用25倍時(shí)，
  相當(dāng)于標(biāo)準(zhǔn)相片0.070 mm時(shí)其實(shí)際之晶粒尺度為0.210 mm