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電子顯微鏡(SEM)對(duì)拉伸鋼材截面觀察其微觀特征

掃描式電子顯微鏡(SEM)拉伸破斷面觀察

將常溫及高溫拉伸破斷面之試樣靠近斷裂尖端處切下，并以碳膠固定于基座上，
利用LV-SEM 之低真空掃描式電子顯微鏡在操作電壓10KV 下觀察拉伸破裂時(shí)之
斷裂面。

光學(xué)顯微鏡(OM)顯微組織觀察
將切割完的試樣，將軋延材與退火材欲觀察的面為垂直擠制、軋延方 向的橫截
面切取及冷鑲埋后，如圖3-3 所示，以#240、#1200、及#2400 砂 紙將表面粗拋
后，再以以1μm、0.3μm、0.05μm 氧化鋁粉拋光。拋光后 以腐蝕液加以腐蝕
（Picral 腐蝕液成分為表3-2 所示），腐蝕時(shí)間約為數(shù)十 秒，視腐蝕狀況可延
長(zhǎng)腐蝕時(shí)間，再以清水沖去表面腐蝕液后以烘干機(jī)將 表面干燥，最后再以光學(xué)顯
微鏡進(jìn)行觀察，并以CCD 截取圖像，而后利用線截取法量取晶粒之尺寸