簡單的礦物標(biāo)本反射率的測定方法-偏光顯微鏡常識

標(biāo)本的反射率決定于拋光的質(zhì)量。

  超拋光產(chǎn)品有一堅硬的低反射率層。拋無表面必須平滑，裝在顯
微鏡載物臺上的一面也必須平滑

  具體方法一步步地敘述如下：1.標(biāo)準(zhǔn)樣安放在顯微鏡物臺上，用
白光或選擇的單色光射入沒有裂隙的區(qū)域

  2.調(diào)整視域和目鏡可變光圈至不多于照明區(qū)域的四分之一，從光
度計讀出的數(shù)字與標(biāo)準(zhǔn)樣反射率近似相等（數(shù)字讀數(shù)系統(tǒng)可以用電流
計系統(tǒng)代替。）

  3.用一個內(nèi)部涂黑、頂部有一個小孔的小盒子代替標(biāo)準(zhǔn)樣，測定
第二個讀數(shù)。這個讀數(shù)等于最初閃光引起的數(shù)值。通過調(diào)整零點(diǎn)把它
抵消掉，直到電流計或數(shù)字讀數(shù)器讀零為止。

  4.再放上標(biāo)準(zhǔn)樣，微調(diào)可變光圈至讀數(shù)確實(shí)與預(yù)先提供的標(biāo)準(zhǔn)相
等為止。隨后電流計或數(shù)字鍵在未知礦物區(qū)直接測出反射率。不需要
再調(diào)整儀器。

  5.用巖石或礦物光片代替準(zhǔn)標(biāo)樣，顯微鏡小心地對準(zhǔn)要研究的礦
物的沒有裂隙的區(qū)域。

  6.如果不改變可變光圈的位置，電流計或數(shù)學(xué)讀數(shù)器即可測出標(biāo)
本的反射率。礦物是均質(zhì)體，反射率可在任意位置測得。如果礦物是
非均質(zhì)體，兩個反射率可在各自的消光位置分別讀出。

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