USPM-RUⅢ是在原USPM-RU儀器上開發(fā)出的換代產(chǎn)品,是鏡片反射率測定儀的新機型。薄鏡片也不受背面反射光的影響,能實現(xiàn)高速、高精度的分光測定。
●特征
消除背面反射光
采用特殊光學系,消除背面反射光。不必進行背面的防反射處理,可正確測定表面的反射率。
可測定微小領(lǐng)域的反射率
用對物鏡對焦于被測面的微小區(qū)域(φ60μm),可測定鏡片曲面及鍍膜層脫落。
測定時間短
使用Flat Field Grating(平面光柵)和線傳感器的高速分光測定,可迅速實現(xiàn)再現(xiàn)性很高的測定。
XY色度圖、L*a*b*測定可能
以分光測定法為基準,從分光反射率情況可測定物體顏色。
Hard Coat(高強度鍍膜)膜厚測定可能
用干涉光分光法,可以不接觸、不破壞地測定被測物的膜厚(單層膜)。
●主要用途
各種透鏡(眼鏡透鏡、光讀取頭鏡片等)
反射鏡、棱鏡以及其他鍍膜部品等的分光反射率、膜厚測定(單層膜)
●與原產(chǎn)品的主要區(qū)別
采用全新的USPM-RUⅢ專用框架及設(shè)計,提高了操作性能。
受臺Z方向的移動范圍從35mm(原產(chǎn)品)擴大到了85mm。
電源規(guī)格可對應AC100V以及AC220V。
(請您在下訂單時注明電源規(guī)格。)
優(yōu)化了軟件的功能。(可顯示10次測定的功能等)
XY受臺移動方向增加了比例尺。
更換鹵燈時不需調(diào)整燈的位置。
PC與Interface采用了USB式連接。
本裝置不保證為Traceability體系中的精度。
如規(guī)格及外觀發(fā)生變更恕不另行通知,敬請諒解。
光學系光路圖
背面反射光消除的原理
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