1000倍的光學(xué)顯微鏡-顯微硬度鑒定用光學(xué)儀器

  測(cè)定的金相法是基于在變形晶粒的基底上發(fā)現(xiàn)新的可見(jiàn)的
再結(jié)晶晶粒。其敏感性取決于很多因素。在放大1000倍的光學(xué)顯微鏡
下，當(dāng)新晶粒的尺寸為10-50μm時(shí)，可以清楚地顯示。

因此，如果是在輕微的(過(guò)臨界的)或中等的變形之后研究，則此
方法只在原始晶粒尺寸足夠大(1~4級(jí))時(shí)才能使用。此時(shí)，

新晶粒很容易被顯示出。因?yàn)闊嶙冃螘r(shí)，新晶粒在原始大晶粒邊
界上形成，冷變形后加熱時(shí)，在原始晶粒邊界上晶粒內(nèi)孿晶邊界·
上以及沿滑移線處形成.

  如果原始晶粒尺寸小，只幾個(gè)微米(7^8級(jí)或更小)，再結(jié)晶的
開(kāi)始不能用金相技術(shù)非?？煽康臏y(cè)定。因此應(yīng)選擇X射線結(jié)構(gòu)分析。

  大變形以后，當(dāng)原始晶粒為伸長(zhǎng)的、易浸蝕的纖維伏時(shí)，再
結(jié)晶核心通常能很容易地用金相法測(cè)定。因?yàn)樾戮ЯＳ懈鼮橐?guī)則
的形狀，并且很不容易浸蝕。

  再結(jié)晶晶粒可通過(guò)對(duì)照的方法即測(cè)且其顯微硬度加以鑒定。

  現(xiàn)在通常利用的主要方法是將大試樣變形輾平并退火，將
獲得的薄膜進(jìn)行研究。這個(gè)方法能觀察出胞壁平直化，并轉(zhuǎn)變?yōu)?/p>

亞晶界，胞轉(zhuǎn)變?yōu)閬喚?，通過(guò)晶界移動(dòng)或亞晶聚合形成再結(jié)晶晶
核。此方法重要的優(yōu)點(diǎn)是提供測(cè)定(通過(guò)電子微區(qū)衍射)尺寸為
2^3 μm的微區(qū)(即亞晶、再結(jié)晶晶核和周圍的基體)取向的機(jī)會(huì)。

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