材料實(shí)驗(yàn)中光學(xué)顯微鏡是常用的儀器-備制技術(shù)改制試樣

  光學(xué)顯微鏡地顯微實(shí)驗(yàn)室充滿著活力。在廣泛會用SEM和TEM（透射電子顯微
鏡）及其他電子儀器的時(shí)代。立體的和復(fù)合的光學(xué)顯微鏡繼續(xù)在材料分析中起
著重要作用。

  光學(xué)顯微鏡可用來解決許多在材料科學(xué)工作中遇到的問題。而不必使用花費(fèi)
更高的SEM分析法。即使在SEM的研究很有必要的情況下。光學(xué)顯微鏡在總的分
析工作中仍起著重要作用，它可以用來做最初的基礎(chǔ)工作，在被檢測的試樣用
電子鏡觀察之前用備制技術(shù)改制試樣時(shí)，光學(xué)顯微鏡提供參考用的顯微照片。
借助光學(xué)顯微鏡所進(jìn)行的最初階段的工作，不僅幫助了電子顯微學(xué)家。并且為
最后的分析報(bào)告提供了輔助的資料。

  當(dāng)我們收到一個(gè)需要作微結(jié)構(gòu)分析的樣品時(shí)，應(yīng)先使用低倍率光學(xué)顯微鏡做
一粗略的檢查來決定怎樣分析最人效。由于SEM的放大倍率和效率經(jīng)及它的X光
檢測器，大部分的樣品最終會用SEM來分析。

  但是，即使一個(gè)樣品需要作SEN分析，光學(xué)顯微鏡可以對這種分析進(jìn)行補(bǔ)充
，它可以確定那些需要研究的區(qū)域的位置，如缺陷和雜質(zhì)的部位，并可提供一
個(gè)樣品的顯微攝影圖。

  盡管SEM很有用，但它沒有彩色成象，也沒有觀察表面經(jīng)下深度感的優(yōu)越性
。在表面現(xiàn)表面以下尋找有色粒子是光學(xué)顯微鏡的一大特點(diǎn)。彩色的顯微照片
不僅顯示所研究區(qū)域的自然狀態(tài)，還可以向SEM的操縱者指明分析的特定區(qū)域

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