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巖石結(jié)構(gòu)礦物顆粒晶粒直徑測量工具顯微鏡

 組構(gòu)分析的目的是查明巖石中晶體的方向:同一種礦物的許
多顆粒的方向測定出來之后，就可以統(tǒng)計性地得出亞組構(gòu)赤平投
影圖，根據(jù)一套這樣的圖解，就可以把組構(gòu)測定出來。組構(gòu)的對
稱性與產(chǎn)生組構(gòu)的變形作用的對稱性有關(guān)系。

  微觀分析是指用上海光學(xué)儀器立體或巖相顯微鏡和光學(xué)顯微鏡
對所有可見的結(jié)構(gòu)特征進(jìn)行觀察。因此，它主要研究毫米級的細(xì)節(jié)，
根據(jù)這些細(xì)節(jié)，可以描述礦物顆粒等級的巖石結(jié)構(gòu)情況。

微觀分析在傳統(tǒng)上可分為結(jié)構(gòu)研究和組構(gòu)研究。

  結(jié)構(gòu)分析的目的在于查明礦物生長的方式及礦物結(jié)合的方
式，以便把結(jié)晶作用的歷史重現(xiàn)出來。結(jié)構(gòu)分析還應(yīng)研究顆粒的
分布，因為它常常表現(xiàn)為與侵人過程有關(guān)的巖石定向結(jié)構(gòu)。最
后，這種分析還可以把來源于巖漿結(jié)晶作用的物質(zhì)與其他具有更
復(fù)雜歷史的物質(zhì)區(qū)分開來。因此，結(jié)構(gòu)分析可用于確立每種巖石
形成的主要過程。

 
  但是，在這個階段，通過上海光學(xué)儀器一廠光學(xué)顯微鏡分析結(jié)構(gòu)
區(qū)分兩類亞組構(gòu)。
一種礦物的顆?？梢栽谄浣Y(jié)晶的晚期或在重結(jié)晶過程中定向，
以嵌晶或填隙形式(通常呈他形)出現(xiàn)，這個方向表示結(jié)晶網(wǎng)在各向
異性應(yīng)力場(該應(yīng)力場作用于已經(jīng)形成的并且可能處在現(xiàn)有位置
上的深成巖)中的定向發(fā)育。與此相反，能用以確定深成作用的
亞組構(gòu)乃是顆拉被巖漿流動所定向的記錄，所以這些顆粒是早已
形成了的，往往呈自形，形成帶狀和常常連結(jié)成聚晶狀

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