金屬樣品熱加工孔隙和裂紋檢測(cè)用金相顯微鏡

  透射電子顯微鏡它包括將物體切成薄片(現(xiàn)今包括硅
酸鹽，采用離子轟擊)使電子能夠透過，圍繞位錯(cuò)的彈性應(yīng)變引起
電子衍射，所以位錯(cuò)呈明暗線條顯示出來，對(duì)于實(shí)驗(yàn)形變的天然
礦物和巖石來說這是一

種非常有用的方法，因?yàn)樗峁┝宋诲e(cuò)分
布的直接的證據(jù)因而能告訴我們有關(guān)變形和恢復(fù)的機(jī)理

  溫度較低時(shí)，顆粒界面阻止位錯(cuò)運(yùn)動(dòng)的發(fā)生，因而增加應(yīng)變
硬化的速率。所以，一般來說，單晶較之同相的多顆粒集合體更
容易變形。因?yàn)轭w粒界而阻礙位錯(cuò)運(yùn)動(dòng)，所以它們就成為強(qiáng)應(yīng)力
集中的地方。如果顆粒不能適應(yīng)周圍的應(yīng)變(即如果條件有利而
沒有足夠的滑移系統(tǒng))，界面就會(huì)出現(xiàn)孔隙或裂紋。如前所述，
這可能導(dǎo)致碎裂，因此在低溫條件下及/或應(yīng)變速率快時(shí)變形的
多晶粒硅酸鹽中，特別是那些對(duì)稱性較低的硅酸鹽(如層狀硅酸
鹽)中，我們可以看到孔隙和裂紋。

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