測(cè)長(zhǎng)儀分為立式的和臥式的兩種-光學(xué)測(cè)量?jī)x器廠商

測(cè)長(zhǎng)儀是在測(cè)量線上裝有活動(dòng)刻度尺的光學(xué)一機(jī)械接觸式量?jī)x。
  這類(lèi)量?jī)x的特點(diǎn)是完全遵守阿貝原理)。第一種型
號(hào)的立式測(cè)長(zhǎng)儀是阿貝設(shè)計(jì)的。因此這種立式測(cè)長(zhǎng)儀。常常叫做
阿貝測(cè)長(zhǎng)儀
  測(cè)長(zhǎng)儀分為立式的和臥式的兩種。
臥式測(cè)長(zhǎng)儀在原理上是和帶床身的臥式光學(xué)計(jì)具有同樣測(cè)
量系統(tǒng)的量?jī)x，但是安裝了測(cè)長(zhǎng)裝置代替光學(xué)計(jì)的光管。儀器的所
有主要結(jié)構(gòu)元件和帶床身的臥式光學(xué)計(jì)的都是相同
的，有時(shí)甚至是統(tǒng)一化的。
測(cè)長(zhǎng)儀的檢定

  應(yīng)用四等量塊檢定檢定的特點(diǎn)是，必須平衡量塊和被檢儀
器的溫度，采用大尺寸量塊組檢定儀器時(shí)尤應(yīng)注意。
  平衡溫度就是將量塊放置在金屬平板上等一段時(shí)間：對(duì)于
100mm以下的量塊，等待不少于l h，對(duì)手150和250mm的量
塊，不少于2 h。
干涉儀
  干涉儀是光學(xué)一機(jī)械線值測(cè)量?jī)x器，它利用光干涉現(xiàn)象進(jìn)行
光一機(jī)轉(zhuǎn)換。 
  干涉儀的主要用途用測(cè)量和檢定量塊，測(cè)量檢驗(yàn)量規(guī)，檢定
標(biāo)準(zhǔn)零件等。 
測(cè)量直角三角形的邊長(zhǎng)，三角形的
一個(gè)角是被測(cè)角，用三角函數(shù)確定這個(gè)角度的值。因此，這種測(cè)
量方法常稱(chēng)為三角測(cè)量法，還可稱(chēng)為坐標(biāo)法，因?yàn)闇y(cè)量過(guò)程可歸
結(jié)為測(cè)量三角形各點(diǎn)的坐標(biāo)位置。
  這種凋量方法最常用于測(cè)量顯微鏡和坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。

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