冷軋加工樣品微觀結(jié)構(gòu)特試樣厚度檢測顯微鏡

位錯組態(tài)和形變亞結(jié)構(gòu)還會受其它許多因素影響，例如金屬的純度
、形變量、形變溫度和速率、合金元素含量和第二相質(zhì)點，以及形
變方式和方法(拉伸、壓縮、扭轉(zhuǎn)、軋制、拔絲)等。經(jīng)大應(yīng)變量形
變的多晶試樣，例如用于研究再結(jié)晶的高度冷軋的板或帶，其位錯
密度很高，微觀組織結(jié)構(gòu)特別復(fù)雜。只有在平行于板或帶的橫截面
的薄膜試樣上，才能在透射電子顯微鏡下觀察到清晰、確定的胞狀
結(jié)構(gòu)。在通常制備的平行于帶的軋面的試樣上，顯現(xiàn)的是像不規(guī)則
黑云似的胞狀結(jié)構(gòu)，這是因為胞的厚度要比試樣厚度小得多，因而
在透射電子顯微鏡下看到的是許多層胞，其胞界無規(guī)律地重迭著。

在這樣高度形變的試樣中，由于存在有形變帶、不同織構(gòu)的各種區(qū)
域以及各織構(gòu)區(qū)域之間點陣高度彎曲的過渡區(qū)，因而顯微組織極不
均勻。在這些不同區(qū)域之間，胞的尺寸以及胞與胞之間的平均位向
差很不一樣。在研究這種大形變量多晶試樣的退火過程時，顯微組
織特征中的取向問題，對于形核研究是特別重要的大形變量多晶體
中點陣高度彎曲區(qū)的問題。采用透射電子顯微術(shù)獲得的結(jié)果，

來討論形變晶體的顯微組織結(jié)構(gòu)，這是因為我們比較傾向于運用位錯和
胞結(jié)構(gòu)的概念來進行分析。當然，常規(guī)顯微技術(shù)，也是重要的，可
以用來觀察滑移線、形變帶，以及低倍下的整體組織特征。實際上
，將各種技術(shù)適當?shù)亟Y(jié)合起來，可以取得最佳效果。

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