巖相分析顯微鏡測(cè)定出樣品夾雜物的含量和組成成份

  一、巖相分析法
  此法首先用電解方法把夾雜物從鋼中分離出來(lái)，然后在巖相顯微
鏡下進(jìn)行分析鑒定，在鑒定過(guò)程中借助折射率油來(lái)測(cè)定其折射率及
其物理化學(xué)性質(zhì)，從而對(duì)夾雜物的組成作出定性的檢查，雙聯(lián)矽還
元法冶煉的鋼中的夾雜物的特性，在巖相顯微鏡下觀察為透明的，
半透明或不透明的為硅酸鹽，變形的不透明的一般為硫化物，變形
的半透明的為變形硅酸鹽

  二、x射線晶體結(jié)構(gòu)分析法
  該法是將鋼中用電解分離出來(lái)的夾雜物用x射線粉末法進(jìn)行結(jié)構(gòu)
分析，可以對(duì)夾雜物的物相組成和結(jié)構(gòu)作出較準(zhǔn)確的鑒定。

  三、化學(xué)分析法
  化學(xué)分析非金屬夾雜物的組成時(shí)，先用電解法把夾雜物從鋼分離
出來(lái)，再用微量分析法確定夾雜物的各個(gè)組分，此法的優(yōu)點(diǎn)是可較
準(zhǔn)確地測(cè)定出夾雜物的含量和組成成份，但不能確定其形狀和分布
。

  四、x射線微區(qū)分析法
  本法原理是根據(jù)各原素都有其特定標(biāo)識(shí)x射線的特性，用電子束
在被測(cè)試面上掃描，受照射的微小體積內(nèi)就會(huì)發(fā)出該體積內(nèi)的所含
各元素的標(biāo)識(shí)x射線譜，測(cè)定這些元素x射線譜的強(qiáng)度，，便可確定
各元素的量，同時(shí)也可以利用電子束掃描測(cè)定各原素在試樣中分布
情況，這種方法速度快，準(zhǔn)確度高，是近幾年發(fā)展起來(lái)的一種較為
先進(jìn)的夾雜物分析工具，但由于設(shè)備價(jià)格昂貴，工廠中目前尚末普
遍應(yīng)用。

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