表面劃痕和表面碎屑觀察樣品表面顯微結(jié)構(gòu)技術(shù)應(yīng)用

根據(jù)以上電疇電聲成像特有的頻率特性，我們可以推斷，電疇電聲成像的襯度
起源機(jī)制不是通常的熱波耦合，而是來源于其他的作用機(jī)理。但這并不是說熱波
耦合機(jī)制在電疇成像中不存在，樣品熱物性上的不均勻性仍然通過熱波耦合得到
反映，樣品的表面劃痕和表面碎屑的電聲像就是熱波耦合產(chǎn)生的襯度。
掃描電聲顯微術(shù)和掃描探針聲學(xué)顯微術(shù)的比較

  電聲顯微術(shù)和探針聲學(xué)顯微術(shù)都屬于近場聲學(xué)成像方法，兩者的成像分辨率
與聲波的波長無關(guān)，在觀察樣品的疇結(jié)構(gòu)時，不需對樣品進(jìn)行預(yù)處理(拋光、腐蝕
等)。電聲顯微術(shù)是以普通的掃描電鏡為基礎(chǔ)而建立，而探針聲學(xué)顯微術(shù)是在掃描
探針顯微鏡上建立起來的，建立這兩種近場聲學(xué)成像方法都不需太多費(fèi)用，但二者
也有差異，電聲成像是以能量受調(diào)制的聚焦電子束作為激發(fā)源，觀察的視野較開
闊，且可以非破壞性地獲得樣品內(nèi)部的微結(jié)構(gòu)信息，其分辨率在亞微米尺度。探針
聲學(xué)顯微術(shù)是以探針的針尖作為激發(fā)源，主要是提供樣品的表面信息，觀察視野較
小(150μm×150μm)，最高分辨率在30～40 nm之間。

  電聲顯微術(shù)和探針聲學(xué)顯微術(shù)這二者之間的相似性和差異對于研究樣品的顯
微結(jié)構(gòu)和了解各自的成像機(jī)理帶來了極大的幫助，特別是對于功能陶瓷電疇結(jié)構(gòu)
的襯度來源提供了可靠的理論和實(shí)驗(yàn)基礎(chǔ)，在實(shí)際應(yīng)用中兩者的功能是相互彌補(bǔ)，
并與其他近場成像技術(shù)相媲美，在材料微觀結(jié)構(gòu)分析中獨(dú)樹一幟。

鐵電材料是一類顯示多種物理效應(yīng)的無機(jī)功能材料，其壓電效應(yīng)、熱釋電效
應(yīng)、電光效應(yīng)、聲光效應(yīng)、熱光效應(yīng)、光折變效應(yīng)和非線性光學(xué)效應(yīng)等在高新技術(shù)許
多重要領(lǐng)域獲得了廣泛的應(yīng)用，如非揮發(fā)性動態(tài)隨機(jī)存儲器、微型壓電馬達(dá)及壓電
驅(qū)動器、高介電性薄膜電容器、紅外熱釋電探測器、光波導(dǎo)及光開關(guān)器件等。至今，
這種材料在許多高技術(shù)領(lǐng)域已成為不可替代的支撐性材料。

  鐵電疇是鐵電材料的基本物理特征，鐵電疇的結(jié)構(gòu)及其在外場作用下的行為
對鐵電體物理性質(zhì)及鐵電材料的應(yīng)用有著重要影響。

目前，鐵電器件正朝著高度微型化和集成化方向發(fā)展，器件單元的尺寸已降低到亞微
米尺寸，迫切需要在納米尺度上原位評估材料的微區(qū)結(jié)構(gòu)及性能。為此，人們一直
在尋求能在納米尺度上非真空條件下觀察鐵電疇的方法。

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