暗場(chǎng)顯微技術(shù)超顯微鏡

  暗場(chǎng)照明對(duì)檢測(cè)、計(jì)數(shù)和研究懸浮質(zhì)點(diǎn)的運(yùn)動(dòng)是一項(xiàng)特別
有用的技術(shù)．在一個(gè)普通顯微鏡的側(cè)面裝有一個(gè)照明系統(tǒng)，光
線不能直接進(jìn)入物鏡，只有被研究樣品散射的光才能進(jìn)入．

  若膠體分散體系中，質(zhì)點(diǎn)與其懸浮介質(zhì)間的折射率有較大
差別，當(dāng)用一束強(qiáng)光照明時(shí)，則有足夠的光被偏轉(zhuǎn)到物鏡中
去，因而質(zhì)點(diǎn)看起來成為暗背景上的亮點(diǎn)．用此法可看見小到
5～lOnm的憎液性質(zhì)點(diǎn)．由于溶劑化作用，親液性質(zhì)點(diǎn)的折
射率，如被溶解的高分子，與懸浮介質(zhì)的折射率差別較小，因
此它們散射的光很弱，不足以為暗場(chǎng)法檢測(cè)到．
 
  暗場(chǎng)法主要有光柵法和心形聚光法兩種：心形聚光器
(為標(biāo)準(zhǔn)顯微鏡的附件)是一種可產(chǎn)生空心錐形照明光源的光學(xué)裝置，
樣品放在光錐頂端，其亮度甚強(qiáng)

掃描電子顯微鏡
、掃描電子顯微鏡是使用一中等能量的微電子束，以一連串
平行的軌跡對(duì)樣品進(jìn)行掃描，與樣品相互作用，從而產(chǎn)生各種
不同的信號(hào)．包括二次電子發(fā)射(SEE)，背散射電子(BSE)，
陰極發(fā)光和x一射線，都可(根據(jù)它們各自的特性)檢測(cè)出來，顯
示在熒光屏上和照相底板上．在SEE象中，質(zhì)點(diǎn)有如被散光
照明，我們可以測(cè)量其大小和研究其聚集情況，但不能覺察其
高度．在BSE象中，質(zhì)點(diǎn)有如被點(diǎn)光源照明，所形成的陰影可
很好地顯示出高度的差別．

  掃描電子顯微鏡(分辨極限約5nm)所能達(dá)到的放大率一般
雖小于透射電子顯微鏡，但它具有景深較大(由于數(shù)值孔徑小)
這一主要優(yōu)點(diǎn)．在光學(xué)顯微鏡的放大范圍內(nèi)，掃描電子顯微鏡
’所能形成的景深可超過光學(xué)顯微鏡幾百倍．如在研究固體表面
輪廓和質(zhì)點(diǎn)形狀與位向時(shí)，這樣大的景深在膠體與表面化學(xué)中
是極端有用的．

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