力調(diào)制顯微鏡

    原子力顯微鏡成像的擴充包括力調(diào)制顯微鏡(FMM)樣品機械
屬性的特征。與側(cè)力顯微鏡、磁力顯微鏡一樣，力調(diào)制顯微鏡允許
同時獲得外形和原材料屬性的數(shù)據(jù)。
  在力調(diào)制顯微鏡模式中，原子力顯微鏡探針頂端與樣品接
觸掃描，并且Z軸反饋回路保持懸臂偏轉(zhuǎn)為一常數(shù)(如原子力顯微鏡
中的定力模式)，另外，一個周期性的信號加在探針上或加在樣品
上。懸臂調(diào)制振幅的結(jié)果取決于根據(jù)樣品

根據(jù)樣品表面的機械屬性懸臂振動的振幅變化
  當(dāng)探針與樣品接觸時，表面會阻止振動和懸臂的彎曲，在
同樣的作用力下，硬的區(qū)域比軟的區(qū)域損壞樣品表面小，也就是，
硬的表面對垂直振動產(chǎn)生很大的阻力，并隨后造成懸臂彎曲。由懸
臂調(diào)制振幅的變化，此系統(tǒng)產(chǎn)生力調(diào)制成像，這是樣品彈性屬性的
圖像。應(yīng)用信號頻率為幾百千赫大小，其比z軸反饋回路追蹤的信
號頻率要快。外形信息能夠從樣品彈性特性的局部變動中分離出來
，并且兩種類型的圖像可同時獲得。

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