通過光學(xué)顯微鏡研究細(xì)胞學(xué)端粒花束排列
電子顯微鏡也用來解釋端粒定位的各個方面。然而直到最近,
原位雜交技術(shù)在電鏡(electron microscope,EM)方面才得到應(yīng)用
。這種方法僅限于減數(shù)分裂前期的研究,此時(shí)聯(lián)會復(fù)合體已擴(kuò)展到
整個染色體臂,因此可以檢測到染色體末端(見下文)。在缺乏上述
結(jié)構(gòu)時(shí),在間期核電鏡照片中,不可能識別出端粒的存在。
盡管已經(jīng)應(yīng)用了各種方法,但對于間期核內(nèi)端粒組構(gòu)的調(diào)控規(guī)
律的確定仍處于早期階段。雖然大量證據(jù)常?;ハ嗝埽延^察
到端粒表現(xiàn)出的特殊行為;在某些細(xì)胞類型中,它們在細(xì)胞核呈極
化狀態(tài),通常局限在核邊緣,并且成對地或以其他排列方式成簇排
列
大量的細(xì)胞學(xué)研究結(jié)果表明減數(shù)分裂過程中端粒的定位和行為
與在體細(xì)胞中所觀察的不同。在本節(jié),我們搜集了現(xiàn)存的有關(guān)減數(shù)
分裂端粒組構(gòu)的資料。減數(shù)分裂端粒的細(xì)胞學(xué)資料通常并非出現(xiàn)在
端粒組構(gòu)的研究中,而光學(xué)和電子顯微鏡研究所得到的相關(guān)資料則
很多。
在通過光學(xué)顯微鏡研究來確定花束排列的確切時(shí)間時(shí),很明顯
會出現(xiàn)許多困難。其中很大一部分是因?yàn)槿狈τ靡詤^(qū)別前期I各亞
期細(xì)胞質(zhì)或細(xì)胞核的獨(dú)立的發(fā)育標(biāo)記。另外,亞期的精確判定經(jīng)常
很復(fù)雜,這是由于一個亞期到下一個亞期的變化是細(xì)微的,而且常
規(guī)實(shí)驗(yàn)技術(shù)如酸和乙醇固定及壓片等可導(dǎo)致細(xì)胞學(xué)細(xì)節(jié)的丟失。盡
管有這些限制,但還是清楚地證實(shí)了偶線期短暫重疊的花束期,只
是其準(zhǔn)確的起始和終止點(diǎn)尚未被很好地確定。應(yīng)用系列電子顯微鏡
切片進(jìn)行三維重建
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