高分辨電子顯微鏡高效研究鑄鐵石墨的微觀結(jié)構(gòu)

掃描電鏡研究
  采用掃描電鏡主要是研究鑄鐵中石墨的形態(tài)及其表面特征。
  在把石墨制備成掃描電鏡樣品時(shí)，  以往約工作常采用深腐蝕
、離子轟擊或熱氧腐蝕外理。這些處理方法可能對(duì)試樣有不同程度
的損傷。
  為了獲得石墨的原始形貌，  作者在制備石墨的掃描電鏡樣品
時(shí)，  采用了非水電解液電溶鑄鐵基體的方法， 
  掃描電鏡的樣品分兩種，  一種是把石墨從鑄鐵中完全萃取出
來(lái)，  然后重新放置在同一平面上進(jìn)行掃描屯鏡研究。另一種是把
鑄鐵磨成金相樣后，再用非水溶液電溶法使原來(lái)處于金相面以下的
石墨顯露出來(lái)，  石墨附著在基體的原來(lái)位置，  這種方法可以觀
察到石墨在鑄鐵中的存在狀態(tài)、3．透射電鏡及高分辨電鏡研究石
墨的微觀結(jié)構(gòu)
  為了用透射電子顯微鏡和高分辨電子顯微鏡高效地研究鑄鐵
中幾種典型石墨的微觀結(jié)構(gòu)，  實(shí)驗(yàn)中采用了一種把石墨制備成薄
膜的特殊方法。從石墨中切取薄膜的步驟是：
  (1)用非水溶液電解法把鑄鐵試樣中的石墨完全萃取出來(lái)；
  (2)將萃取出來(lái)的石墨單層地鑲置在金屬銅中；
  (3)用磨拋金相樣的方法分別從單層石墨的兩面進(jìn)行磨拋， 
最后得到微米數(shù)量級(jí)的石墨薄膜；
  (4)用離子減薄儀將微米數(shù)量級(jí)的薄膜減薄至納夫數(shù)量級(jí)：

(本文由上海光學(xué)儀器廠編輯整理提供, 未經(jīng)允許禁止復(fù)制http://www.sgaaa.com)