雙層涂布紙板橫截面不同的結(jié)構(gòu)特征分析顯微鏡

  橫截面檢查可顯示紙張涂層許多不同的結(jié)構(gòu)特征，例如，涂層
厚度的分布。分布的形狀可顯示出涂料滲入原紙傾向上的差異。這
些差異可通過最大滲透深度和分布扭曲性的比較，很明顯地看出。
涂層平均厚度結(jié)合已知涂布量，可獲知涂層的松厚度。涂層松厚度
與光散射有關(guān)并可受涂布配料、施涂情況和整飾(壓光)的影響。涂
層頂部的粗糙度可與涂層底部(即原紙頂部)的粗糙度相比較以獲取
平滑指數(shù)，平滑指數(shù)與涂布配料和施涂情況以及原紙本身有關(guān)，有
時也可比較多層涂布紙種的層間分層傾向。
  雙層涂布紙板橫截面的光學(xué)顯微照片。該圖像是使用反射光獲
取的。
  雙層涂布紙板橫截面的光學(xué)顯微照片意，由于在兩層中顏料亮
度特性上的光澤度不同，兩個涂層很容易區(qū)別。也可看到在原紙板
頂層纖維下面滲透了顯著數(shù)量的涂布顏料。

  中子散射法
  中子散射法(neutron scttering)可用以推測紙張涂紙層內(nèi)部
結(jié)構(gòu)方面的信息。適當(dāng)選擇中子能量和切線入射角，有可能確定涂
層中諸如片狀高嶺土的平均取向(aligment)以及在取向上的變化。
這項技術(shù)的很大缺點是全世界范圍只有很少量裝置在使用。
  X一射線衍射法
  X一射線衍射法(x—ray diffraction)可用以測定高嶺土粒子
取向的程度。通過對主要高嶺土的衍射高峰形狀進行細(xì)致而緩慢的
測定，可以獲得一個取向指數(shù)。但這項技術(shù)要求探測器長時間地以
各種角度保持不動，以便充分精確地測量高峰的形狀。有些x一射
線衍射儀強調(diào)要連續(xù)地掃描探測器，因而就不適合于這項技術(shù)。此
技術(shù)比起中子散射法來的優(yōu)點是很容易購得合適的衍射儀。

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