失效分析方法的選擇

有許多可用的分析方法可用于失效分析研究。這些方法包括塊
狀試樣分析方法，以及可以在很高的放大倍數(shù)下提供表面形貌、冶
金或化學(xué)信息的方法。

塊狀試樣的x射線衍射(XRD)，可提供材料中包括的相和析出物
的相關(guān)信息。這種方法不局限于分析金屬，也能用于評價那些本質(zhì)
上具有晶體結(jié)構(gòu)的材料。x射線衍射斑點是由一種晶格的特征波長
經(jīng)x射線衍射后產(chǎn)生。

掃描電子顯微鏡功能強大，常用于失效分析，因為掃描電鏡可
以提供斷口表面形貌和化學(xué)成分的信息。同時，試樣制備也很簡單
。然而，對于受污染的試樣來說，需要采用專門的清理方法，以防
止電子柬打到試樣時產(chǎn)生“放電”。

相對于掃描電鏡來說，電子探針分析儀在微觀尺度上可提供更
為精確的成分分析。電子探針分析儀分析方法對評價焊縫金屬中的
偏析類型，或確定特定位置的化學(xué)成分時很有用。其分辨率可以達
到1—2μm數(shù)量級。電子探針分析的試樣通常要在電解質(zhì)溶液中進
行電解拋光，并且要制成金相試樣。因為成分信號最易從平整的表
面上獲取。

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