微粒初始沉積速率與微粒濃度觀察顯微鏡
實(shí)驗(yàn)中還發(fā)現(xiàn)有兩個(gè)復(fù)雜的現(xiàn)象,即表面覆蓋密度是時(shí)間的非
線性函數(shù)以及微粒初始沉積速率與微粒濃度不成比例關(guān)系。微粒濃
度和初始沉積量存在非線性關(guān)系可能是由于表面濃度對時(shí)間的非線
性依賴關(guān)系所致??梢酝茢?,穩(wěn)定膠體實(shí)驗(yàn)體系上述非線性關(guān)系可
能是由捕捉表面和膠體微粒表面電荷的非均勻性所引起的。這里使
用轉(zhuǎn)盤實(shí)驗(yàn)很難觀測到捕捉表面附近微粒的運(yùn)動(dòng)特征,更難于觀測
到微粒的分散行為,在前面介紹的駐點(diǎn)流直接觀察法實(shí)驗(yàn)就可以作
到這一點(diǎn)。在駐點(diǎn)實(shí)驗(yàn)條件下,由于微粒分散率與初始流量都依賴
于微粒和捕捉面很接近時(shí)表面作用勢能曲線的形狀,所以分散速率
與初始流量直接相關(guān)。
在顯微膠卷上觀測到的大量沉積不均勻現(xiàn)象也支持了非均勻性
假設(shè),這種假設(shè)解釋了由表面阻礙和覆蓋活化中心所導(dǎo)致的表面的
微粒沉積飽和。盡管使用了陰離子表面活性劑減少了表面電性的非
均勻性,但還是不能確保在亞顯微水平上產(chǎn)生均勻的電勢。電荷不
足的區(qū)域并不是一定要在能壘附近產(chǎn)生不帶電的突破口。對于一個(gè)
忌?!?的體系而言,只有一小部分微粒表面與捕捉表面實(shí)際相接
觸。因此低于平均電勢的小點(diǎn)就足夠?qū)е挛⒘.a(chǎn)生沉積。
實(shí)驗(yàn)還表明,當(dāng)雙電層作用力對微粒沉積的影響不大時(shí),由低
表面電勢體系所得的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)與理論值具有較好的一致性。然而,
微粒沉積流量仍然對表面電勢非常敏感,即使電勢改變0.1mV,微
粒沉積流量也會產(chǎn)生顯著的變化。另一方面,即使對于標(biāo)準(zhǔn)聚合物
溶液,電泳遷移率的標(biāo)準(zhǔn)差一般也是平均值的10%~20%。
(本文由上海光學(xué)儀器廠編輯整理提供, 未經(jīng)允許禁止復(fù)制http://www.sgaaa.com)
合作站點(diǎn):http://www.xianweijing.org/