(本網(wǎng)站任何文字信息由上海光學(xué)儀器廠版權(quán)所有, 轉(zhuǎn)載請注明本站網(wǎng)址http://www.sgaaa.com)
掃描穿遂顯微鏡(STM:Scanning Tunneling Microscopy)
使用矽晶圓或納米碳管(CNT)制作成針尖小于100nm(納米)的納米尖端,當(dāng)納米尖端由“金屬固體”表面掃過時,
尖端接觸“金屬”表面會導(dǎo)電,利用導(dǎo)電的大小來控尖端隨物體表面高低起伏而上下移動,可以量測“金屬固體”(良導(dǎo)體)表面。
將尖端上下移動情形記錄下來,并且利用電腦模擬物體表面三維高低起伏而繪出相對應(yīng)的三維圖形。
掃描穿遂顯微鏡(STM)的解析度與納米尖端的尺寸有關(guān),可以用來觀察大約1nm(納米)的結(jié)構(gòu),因此可以看到由電腦模擬的原子影像。