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顯微鏡顆粒測量儀器簡介-顯微清潔度等級測量?
解答:
利用顯微鏡將粉粒體放大, 僅可以直接量測粉粒體的粒徑,還可以看 粉粒體的形狀,最小可量測至 0.1 米。
但傳統(tǒng)的人工逐一的測量單一顆粒的粒徑再加以統(tǒng)計(jì)分析, 但耗費(fèi)大量時(shí)間及人 且受人為因素影響極大,
因此較 適用于工業(yè)產(chǎn)品品質(zhì)檢測之用
所以搭配全自動(dòng)顯微油污等級分析系統(tǒng)可以克服以上缺點(diǎn)
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顯微清潔度等級分析系統(tǒng)
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與X 光繞射法比較 光繞射法有哪些缺點(diǎn)?
解答:光繞射法即是利用繞射原理,以激光撞擊粉粒體表面
量測其反射光的角度,將各個(gè)數(shù)據(jù)資料加以統(tǒng)計(jì)分析即可計(jì)算出粉粒體粒徑大小及分布特性。
此法僅能測得粉粒體的平均粒徑,無法測得其粒徑分佈且所得的粒徑資料有限、準(zhǔn)確度差及儀器價(jià)格昂貴