上海伯東 inTEST - Temptronic 高低溫循環(huán)測(cè)試機(jī)閃存溫度測(cè)試應(yīng)用
閃存(Flash Memory)，是非揮發(fā)性?xún)?nèi)存的一種，不需電力來(lái)維持?jǐn)?shù)據(jù)的儲(chǔ)存，可分為 NOR Flash 以及 NAND Flash 兩種，前者用于儲(chǔ)存程序代碼，后者用于儲(chǔ)存數(shù)據(jù)。閃存應(yīng)用范圍涵蓋汽車(chē)電子、因特網(wǎng)、存儲(chǔ)器、DSL 電纜調(diào)制解調(diào)器、數(shù)字電視、照相手機(jī)、藍(lán)芽、 GPS、工業(yè)電子 等等。

閃存溫度測(cè)試原因
為確保閃存可在極端溫度環(huán)境(例如: 油氣探勘、重工業(yè)以及航空領(lǐng)域)可正常實(shí)現(xiàn)穩(wěn)健的閃存讀／寫(xiě)操作功能，因此在出廠前需要進(jìn)行溫度測(cè)試，inTEST - Temptronic ThermoStream 超高速高低溫循環(huán)測(cè)試機(jī)憑借可測(cè)試溫度 -100 ℃ 至 +300 ℃，每秒可快速升溫或降溫 18 C，溫度精度 +-1.0℃等優(yōu)勢(shì)廣泛應(yīng)用于閃存制造行業(yè)。上海伯東作為 inTEST 中國(guó)地區(qū)總代理，全權(quán)負(fù)責(zé)其新品銷(xiāo)售和售后維修服務(wù)
閃存溫度測(cè)試方法:
通過(guò)與愛(ài)德萬(wàn) (Advantest ) 內(nèi)存 IC 測(cè)試系統(tǒng)搭配之下，客戶可直接在極端溫度下測(cè)試閃存的運(yùn)作特性。根據(jù)客戶實(shí)際要求，上海伯東推薦選用 inTEST ATS-545-M 高低溫循環(huán)測(cè)試機(jī)，并提供兩種溫度操作模式: Air mode 及 DUT mode
閃存多采用 DUT mode 即 Device under test t模式來(lái)進(jìn)行高低溫循環(huán)測(cè)式，將閃存與 inTEST ATS-545-M 使用 T type Thermocouple 相互連接，如此即可精確掌控受測(cè)物達(dá)到機(jī)臺(tái)所設(shè)定之溫度。閃存高低溫測(cè)試方法同樣適合內(nèi)嵌式記憶體eMMC 溫度測(cè)試。inTEST-Temptronic thermostream 高低溫測(cè)試機(jī)可與愛(ài)德萬(wàn) advantest，泰瑞達(dá) teradyne，惠瑞捷 verigy 工程機(jī)聯(lián)用，進(jìn)行芯片高低溫循環(huán)測(cè)試。更詳細(xì)的高低溫測(cè)試操作方法歡迎致電 021-5046-3511

inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和Thermonics
Temptronic 創(chuàng)立于 1970 年，在 2000 年被 inTEST 收購(gòu)，成為在美國(guó)設(shè)立的超高速溫度環(huán)境測(cè)試機(jī)的首家制造商。而 Thermonics 創(chuàng)立于1976年，在 2012 年被 inTEST 收購(gòu)，使 inTEST 更強(qiáng)化高低溫循環(huán)測(cè)試以及溫度沖擊測(cè)試領(lǐng)域的實(shí)力。在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用嶄新的研發(fā)技術(shù)發(fā)展出獨(dú)創(chuàng)的溫度環(huán)境測(cè)試機(jī)，將 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合進(jìn)化成 inTEST ThermoStream ATS 超高速溫度環(huán)境測(cè)試系列產(chǎn)品。上海伯東作為 inTEST 中國(guó)總代理，全權(quán)負(fù)責(zé)  inTEST 新品銷(xiāo)售和售后維修服務(wù)。