供應(yīng)薄膜測量儀器-美國科學計算國際公司(SCI)
供應(yīng)薄膜測試儀器-美國科學計算國際公司(SCI)
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SCI FilmTek TM Systems(薄膜測量儀器測試功能說明)可測量:
Index of Refraction折射指數(shù)(at 2μm thickness)
Thickness Measurement Range 厚度測量范圍
Maximum Spectral Range 較大光譜范圍
Standard Spectral Range標準光譜范圍
Reflection反射測量
Transmission透射測量
Optional Spectroscopic Ellipsometry可選擇的光譜橢圓偏光法測量
Power Spectral Density功率譜密度測量
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度測量
Both TE & TM Components of Index
Multi-layer thickness多層厚度測量
Index of Refraction折射系數(shù)測量
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系數(shù)
Energy band gap能量帶隙測量
Composition成分測量
Crystallinity晶狀測量
Inhomogeneous Layers非均勻?qū)訙y量
Surface Roughness表面粗糙度測量
A variety of options can extend these standard measurement capabilities.

Typical applications典型應(yīng)用:
Flat panel display平板顯示器薄膜OLED有機發(fā)光二級管薄膜
Semiconductor and dielectric materials半導(dǎo)體和電介質(zhì)材料薄膜Computer disks計算機磁盤薄膜
Multilayer optical coatings多層光學涂層薄膜Coated glass有涂層的玻璃薄膜
Optical antireflection coatings光學抗反射涂層薄膜aser mirrors激光鏡薄膜
Electro-optical materials電鍍光學材料薄膜hin Metals薄金屬薄膜

Example Films薄膜范例:
SiOx氧化硅薄膜a-Si非晶硅薄膜Alq3
SiNx氮化硅薄膜a-C:H氧化類金剛石薄膜HIL
DLC類金剛石薄膜ITO錫銦氧化物薄膜BEML
SOG 玻璃上系統(tǒng)薄膜Polysilicon多晶硅薄膜GEML
Photoresist光刻膠薄膜Polyimide聚酰亞胺薄膜ETL
Thin Metals薄金屬薄膜Color Dye彩色染料薄膜REML

Example Substrates襯底范例:
Silicon 硅襯底 GaAs砷化鎵襯底
SOI襯底 Glass玻璃襯底
SOS襯底 Aluminum鋁襯底 以上信息由企業(yè)自行提供，信息內(nèi)容的真實性、準確性和合法性由相關(guān)企業(yè)負責，91化工儀器網(wǎng)對此不承擔任何保證責任。 溫馨提示：為規(guī)避購買風險，建議您在購買產(chǎn)品前務(wù)必確認供應(yīng)商資質(zhì)及產(chǎn)品質(zhì)量。