超低檢測(cè)限滿足更多需求

1、采用天瑞專利技術(shù)――獨(dú)特的激發(fā)X光源，樣品激發(fā)結(jié)構(gòu)和探測(cè)系統(tǒng)，大大提高儀器元素的檢測(cè)靈敏度（降低檢出限），分析含量一般為0.1ppm到99.9％，比普通XRF儀器金屬中Pb檢出限低10倍。

2、采用高分辨率SDD探測(cè)器和最新的數(shù)字多道技術(shù)，使儀器的計(jì)數(shù)率上限提高10倍，400W大功率光管的使用同樣能夠使儀器能夠獲得更高的計(jì)數(shù)率達(dá)到100kcps，儀器元素的檢測(cè)精度水平大為提高，檢測(cè)更快速；

3、二種光路系統(tǒng)跟據(jù)需要自由切換，特殊專利光路極為有利于檢測(cè)金屬中Pb、As、Cr超低含量的有害元素。而測(cè)非金屬有害元素可以采用標(biāo)準(zhǔn)直照射光路測(cè)定超低含量的有害元素更快速有效。

假定由x-射線管陽極產(chǎn)生的x-射線是非偏振的且沿z軸方向入射到靶材(散射體)上，則沿y軸傳播的散射束即為線性偏振光。電場(chǎng)矢量在 v平面內(nèi)振動(dòng)，振動(dòng)方向平行于X軸。放置在y軸上的樣品被偏振光激發(fā)，產(chǎn)生非偏振的熒光x-射線。因樣品和樣品支撐物在X軸方向上不產(chǎn)生散射輻射，將探測(cè)器放置在x軸上可充分利用偏振效應(yīng)，降低彈性和非彈性散射x光子造成的本底。

普通臺(tái)式XRF儀器的飾品中有害元素檢出限

金屬中有害元素

檢出限

非金屬有害元素

檢出限

Pb

117.2mg/kg

Pb

2.3mg/kg

As

As

2.5mg/kg

Cr

237.1mg/kg

Cd

5.3mg/kg

Hg

--

Sb

7.2mg/kg

Cd

Se

2.7mg/kg

Hg

2.5mg/kg

Ba

11.4mg/kg

Cr

12.1mg/kg

使用SUPER EDX2400  對(duì)煙草測(cè)試的實(shí)例測(cè)試結(jié)果

樣品名稱（ppm)

某品牌煙絲

元素

Cd

Pb

Hg

Cr

Br

As

Sb

Ba

Se

含量

ND

4.5

ND

ND

11.3

0.15

ND

ND

ND