信息發(fā)布 
2008年9月30日

  在受歐盟指令RoHS（有毒物質(zhì)限制）和WEEE（廢棄電子電器設備）管制的有毒重金屬的篩選方面，X射線熒光（XRF）光譜法已成為最佳的技術手段。 

  ASTM于2008年9月26日發(fā)布了一個采用XRF法對均勻聚合物中有毒重金屬元素進行例行分析的新的國際標準（ASTM F2627－08）（www.astm.org）。帕納科為此新國際工業(yè)標準的研發(fā)做出了貢獻，并引以自豪。據(jù)此標準，一旦擁有了適合RoHS/WEEE分析用的能量色散X射線（EDXRF）光譜儀，比如帕納科的MiniPal 4 RoHS WEEE專用光譜儀，就可以對RoHS 元素進行直接而可靠的分析。 

  所有出口到歐盟的產(chǎn)品必須滿足RoHS/WEEE指令和REACH條例（化學物質(zhì)注冊、評價、授權和限制）的要求。盡管保證產(chǎn)品和元件符合要求的責任方為生產(chǎn)者和銷售者，但帕納科公司愿與您站在一起，我們?nèi)蚍秶拇硭M成的團隊隨時為您在當?shù)靥峁┰胤治鼋鉀Q方案和質(zhì)量控制成本管理等方面的幫助和咨詢。 

  為幫助向歐盟出口產(chǎn)品的客戶滿足越來越復雜的環(huán)境管制條例，帕納科公司除了為您提供專用的設備和組合校準樣品之外，還將向您奉獻集60年X射線分析而成的先進經(jīng)驗和方法。如果您想要獲取成熟的RoHS/WEEE元素分析解決方案、RoHS系列校準標樣、以及大量的技術秘訣，請與當?shù)氐呐良{科代表聯(lián)系