Sphere3000是一套全波長(zhǎng)顯微球面光學(xué)元件光譜分析儀，能快速準(zhǔn)確地測(cè)量各類球面/非球面器件的相對(duì)/絕對(duì)反射率。適用于凸透鏡、凹透鏡、鏡片等的鍍膜反射率測(cè)量。還可進(jìn)行有干涉條紋的單層膜厚或折射率測(cè)量。

Sphere3000球面光學(xué)元件反射率顯微測(cè)試儀-特點(diǎn)：

  顯微測(cè)定微小領(lǐng)域的反射率  物鏡對(duì)焦于被測(cè)物微小區(qū)域（φ60μm）

  CIE顏色測(cè)定  X Y色度圖，x, y, L, a, b, 飽和度，主波長(zhǎng)等

  檢測(cè)速度快  高性能探測(cè)器，能在幾秒內(nèi)實(shí)現(xiàn)重現(xiàn)性高的測(cè)定

  消除背面反射光 無(wú)需進(jìn)行背面防反射處理即可快速準(zhǔn)確地測(cè)定表面反射率

Sphere3000球面光學(xué)元件反射率顯微測(cè)試儀-技術(shù)參數(shù)

型號(hào) Sphere-3000（I型） Sphere-3000（II型） Sphere-3000（III型） 檢測(cè)范圍 380~800nm 380~1000nm 380~1100nm 波長(zhǎng)分辨率 1nm 1nm 1nm 相對(duì)檢測(cè)誤差 ﹤1% ﹤1% ﹤0.5% 測(cè)定方法 與標(biāo)準(zhǔn)物比較測(cè)定 被測(cè)物再現(xiàn)性 ±0.1%以下
(2σ)（380nm~410nm） 
±0.05%以下
(2σ)(410nm~800nm) ±0.1%以下
(2σ)（380nm~410nm）
±0.05%以下
(2σ)(410nm~1000nm) ±0.1%以下
(2σ)（380nm~410nm）
±0.05%以下
(2σ)(410nm~1100nm) 單次測(cè)量時(shí)間 ﹤1s 精度 0.3nm 被測(cè)物N.A. 0.12(使用10×對(duì)物鏡時(shí))
0.24(使用20×對(duì)物鏡時(shí))
  被測(cè)物尺寸 直徑 1mm
厚度 1mm(使用10×對(duì)物鏡時(shí))
厚度 0.5mm(使用20×對(duì)物鏡時(shí)) 被測(cè)物
測(cè)定范圍 約φ60μm(使用10×對(duì)物鏡時(shí)) 約φ30μm(使用20×對(duì)物鏡時(shí)) 設(shè)備重量 約15kg（光源內(nèi)置） 設(shè)備尺寸 300(W)×550(D)×570(H)mm 使用環(huán)境 水平且無(wú)振動(dòng)的場(chǎng)所
溫度：23±5℃；濕度：60％以下、無(wú)結(jié)露， 操作系統(tǒng) Windows XP, Windows Vista，Win7 軟件 分光反射率、物體顏色、單層膜厚（有干涉條紋）和鍍膜折射率（有干涉條紋）測(cè)定