2017年9月6日-9日，廣州標(biāo)旗電子有限公司攜旗下自主品牌科思凱（Qspec）光學(xué)元件光譜檢測(cè)儀系列產(chǎn)品參加了在深圳會(huì)展中心舉行的第十九屆中國(guó)光博會(huì)，并取得圓滿成功！展會(huì)上光譜快速檢測(cè)技術(shù)目前已得到業(yè)內(nèi)人士的普遍認(rèn)可，其檢測(cè)速度快、操作速度快的優(yōu)勢(shì)，滿足行業(yè)客戶對(duì)全檢的需求。此外，同時(shí)隨著科技經(jīng)濟(jì)的飛速更新，很多客戶現(xiàn)場(chǎng)提出自動(dòng)化代替人工的檢測(cè)需求，光譜與機(jī)械化的聯(lián)用已成為新的市場(chǎng)亮點(diǎn)，標(biāo)旗依托廣東省光譜快速測(cè)量工程技術(shù)中心的強(qiáng)大研發(fā)實(shí)力，必將與時(shí)俱進(jìn)開發(fā)光機(jī)電一體化的新設(shè)備，滿足客戶需求。   廣州標(biāo)旗展臺(tái)740)this.width=740" height=300>   展會(huì)期間展臺(tái)客戶咨詢不斷 740)this.width=740" height=342>   我司工程師為客戶樣品測(cè)試講解 740)this.width=740" height=225>   為客戶專業(yè)講解儀器 740)this.width=740" height=225>   我司工程師與客戶進(jìn)行深入洽談 740)this.width=740" height=225>   740)this.width=740" height=225>   致力做光譜快速檢測(cè)方案專家
  廣州標(biāo)旗電子有限公司在光譜快速檢測(cè)領(lǐng)域深耕12年，致力于做光譜快速檢測(cè)方案專家，熟悉各種光譜快速檢測(cè)方案的搭建，為化工、光電、材料、農(nóng)學(xué)、生物等不同領(lǐng)域的客戶提供了上百種檢測(cè)方案，2014年被認(rèn)定為國(guó)家級(jí)高新技術(shù)企業(yè)。公司擁有強(qiáng)大的研發(fā)、銷售團(tuán)隊(duì)，擁有極強(qiáng)的創(chuàng)新能力，目前，公司累計(jì)獲得20多項(xiàng)授權(quán)專利并擁有自己的品牌商標(biāo)，公司發(fā)展勢(shì)頭強(qiáng)勁，2015年榮獲廣州開發(fā)區(qū)“瞪羚企業(yè)”稱號(hào)；2016年成功認(rèn)定為廣州市研發(fā)機(jī)構(gòu)；2016年順利通過ISO 9001質(zhì)量管理體系認(rèn)證；2016年順利通過國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)管理體系認(rèn)證；2017年批準(zhǔn)為廣東省兩化融合管理體系貫標(biāo)試點(diǎn)企業(yè)及廣州市科技創(chuàng)新服務(wù)機(jī)構(gòu)。
  參展產(chǎn)品——光學(xué)元件光譜檢測(cè)系列
  我司此次攜帶的光學(xué)元件光譜檢測(cè)系列產(chǎn)品主要有：Planum-3000平面光學(xué)元件光譜分析儀、Sphere-3000光學(xué)元件反射率測(cè)量?jī)x、TMS透過率測(cè)量?jī)x、TMS-mirco顯微透過率測(cè)量?jī)x、TMS-UV紫外透過率測(cè)量?jī)x、OTM-20/OTM-1肉厚測(cè)量?jī)x。   Sphere-3000 光學(xué)元件反射率測(cè)量?jī)x 740)this.width=740" height=225>     全波長(zhǎng)球面光學(xué)元件反射率測(cè)量?jī)x，能快速準(zhǔn)確地測(cè)量各類球面/非球面器件的相對(duì)/絕對(duì)反射率，適用于凸透鏡、凹透鏡、鏡片等的鍍膜反射率測(cè)量，還可進(jìn)行有干涉條紋的單層膜厚或折射率測(cè)量。   TMS-micro 顯微透過率測(cè)量?jī)x 740)this.width=740" height=225>   對(duì)比傳統(tǒng)目鏡對(duì)焦，其采用數(shù)字相機(jī)視頻對(duì)焦更準(zhǔn)確、測(cè)試速度更快，可調(diào)光斑孔徑大小達(dá)到了前所未有的最小尺寸，更好的適應(yīng)了市場(chǎng)上越來越精細(xì)的測(cè)試樣品。專門用于手機(jī)蓋板IR孔、菜單鍵、返回鍵等微小區(qū)域的透過率檢測(cè)。   Planum-3000 光學(xué)元件光譜分析儀 740)this.width=740" height=225>   全波長(zhǎng)的光譜分析儀，用于快速測(cè)量各類平面光學(xué)元件的反射、透射光譜，可進(jìn)行多角度絕對(duì)反射率、相對(duì)反射率、透射率測(cè)量，偏振光測(cè)量，膜性測(cè)量，顏色測(cè)量等。   TMS 透過率測(cè)量?jī)x 740)this.width=740" height=225>   全波長(zhǎng)的絕對(duì)透過率測(cè)量?jī)x，能快速準(zhǔn)確地測(cè)量各類平面、球面、非球面等光學(xué)元件的相/絕對(duì)透射率，可用于實(shí)時(shí)顯示單、多點(diǎn)波長(zhǎng)透過率數(shù)據(jù)及指定波段平均透過率數(shù)據(jù)。適用于手機(jī)蓋板IR孔、棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽膜、濾光片等平面、球面非球面光學(xué)元件及組合鏡頭等的檢測(cè)。   TMS-UV 紫外透過率測(cè)量?jī)x 740)this.width=740" height=225>   紫外透過率測(cè)量?jī)x專為檢測(cè)樣品紫外波段透過率設(shè)計(jì)。
OTM-20 肉厚測(cè)量?jī)x 740)this.width=740" height=225>   利用光學(xué)原理對(duì)平面、凸透鏡、凹透鏡的中心厚度進(jìn)行非接觸式測(cè)量的光學(xué)檢測(cè)儀器。   OTM-20 肉厚測(cè)量?jī)x 740)this.width=740" height=225>   專門用于測(cè)量中心厚度小于1毫米的鏡片以及鏡片深度。
不接觸鏡片表面測(cè)量，避免表面劃傷，造成不良品；高性能探測(cè)器，檢測(cè)速度快，可在1秒內(nèi)完成測(cè)量，重現(xiàn)性極高；樣品適應(yīng)性強(qiáng)，測(cè)量范圍寬，可針對(duì)不同玻璃材質(zhì)和不同厚度的樣品進(jìn)行測(cè)量。