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什么是紫外線試射（或環(huán)球唱片）次測(cè)試？紫外線試射次測(cè)試牽涉測(cè)新產(chǎn)品不愿導(dǎo)致的試射的磁磁化強(qiáng)度。任何集成電路之中的繼電器電阻和電阻亦會(huì)導(dǎo)致紫外線，唯一的原因是：紫外線有多大，它們應(yīng)該完全符合紫外線受限制？那么MSI次測(cè)試研究所如何測(cè)紫外線？紫外線試射的測(cè)試MSI次測(cè)試Guide ：紫外線試射光波不能以美麗的圓柱形圖樣伸展成您的新產(chǎn)品。排放量通常是十分連貫性的，因此次測(cè)試研究所需要發(fā)生變化轉(zhuǎn)送發(fā)射塔的傾斜度在1到4米間以及旋轉(zhuǎn)軸箱。轉(zhuǎn)送發(fā)射塔轉(zhuǎn)送來自EUT的頻率以及離地沖擊。為了降低測(cè)準(zhǔn)確度，障礙物散布有電磁波折射顆粒（氧化鋁，鋼鐵，金屬絲網(wǎng)等），并且該接地平面需要相對(duì)于寬闊。次測(cè)試研究所將成像熱衷的波段并找到吻合臨界值的試射。采用稱之為“更高”的流程（如下說明了），次測(cè)試研究所信息化矚目這些排放量之中的每一個(gè)，并定量電流密度的波幅。紫外線試射次測(cè)試娛樂場(chǎng)所的種類：有兩種主要種類的次測(cè)試換乘站用做測(cè)家電的紫外線試射。這些次測(cè)試附近的最終目標(biāo)是正確測(cè)新產(chǎn)品的排放量，并保障它們完全符合關(guān)的受限制。全球性有將近1000個(gè)美國國會(huì)列舉/承認(rèn)的MSI次測(cè)試換乘站，每個(gè)次測(cè)試換乘站將近涵蓋一個(gè)以下幾點(diǎn)次測(cè)試換乘站。該小數(shù)點(diǎn)不包含未曾在美國國會(huì)申請(qǐng)的任何MSI次測(cè)試換乘站。封閉范圍靶場(chǎng)（OATS）“OATS”或封閉范圍次測(cè)試換乘站是最常用的紫外線試射次測(cè)試換乘站。它們一般而言特征變成完全符合XML C63.4（北美洲和其他北部）和CISPR 16安1安z（歐洲各國和其他北部）的敦促。發(fā)射塔與被測(cè)定的設(shè)備（EUT）間的英哩一般而言為3米，10米或30米。測(cè)英哩很極其重要，因?yàn)槟匦璞Ｕ蠝y(cè)遠(yuǎn)場(chǎng)之中的電流密度而不是左右場(chǎng)。 在30 KHz時(shí)，nm為10米。當(dāng)您吻合無線通訊或菲涅耳區(qū)可定義（無線通訊和遠(yuǎn)場(chǎng)間的范圍）時(shí)，電荷不太可能還不不穩(wěn)定的并且測(cè)將不有點(diǎn)正確。一些規(guī)范敦促特定的分開，而另一些規(guī)范強(qiáng)制采用兩種或更為各不相同的分開。因?yàn)閹щ娏Ｗ拥娘L(fēng)速隨英哩而波動(dòng)，所以在每次測(cè)間隔時(shí)間時(shí)再次數(shù)值臨界值。雖然通過考量大概20dB /十倍的二階突變來非常相同測(cè)英哩間的次測(cè)試測(cè)一般而言是可放棄的，但只不過 存有使得在相同種類的配套附近的測(cè)的非常成問題的原因。 半電離層暗處半消聲室（或縮寫SAC）就像OATS一樣，只有它被收容在過濾（金屬和）浴室。這相當(dāng)精確，因?yàn)樗梢詼p小時(shí)代背景（生存環(huán)境）通信頻率，因此更易劃分新產(chǎn)品和時(shí)代背景頻率。SAC核心襯有SR滲入材質(zhì)，使折射頻率始終保持最大者。如果并未這些吸收器，測(cè)發(fā)射塔將轉(zhuǎn)送來自墻上和地板折射的不能定量的頻率杰出貢獻(xiàn)，使得測(cè)相當(dāng)不正確。懷特十分高昂（Companygt; 10萬美元），但它們是在吵雜生存環(huán)境之中測(cè)環(huán)球唱片的好新方法。以上章節(jié)由環(huán)測(cè)威概括發(fā)表，刊發(fā)勸標(biāo)示來歷！
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【EMI測(cè)試】MSI次測(cè)試vs紫外線試射次測(cè)試環(huán)球唱片
核心提示：什么是紫外線試射（或環(huán)球唱片）次測(cè)試？紫外線試射次測(cè)試牽涉測(cè)新產(chǎn)品不愿導(dǎo)致的試射的磁磁化強(qiáng)度。任何集成電路之中的繼電器電阻和電阻亦會(huì)導(dǎo)致紫外線，唯一的原因是：紫外線有多大，它們應(yīng)該完全符合紫外線受限制？那么MSI次測(cè)試研究所如何測(cè)紫外線？紫
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