FIB-M 微區(qū)透反射探頭 采用共軛成像原理，利用光纖作為 Pin Hole，在顯微尺度上進行空間分辨的光譜測量。同時，利用專利的微區(qū)指示照明技術(shù)，精確地將測量位置標記在視野之中。最終為您帶來一款能測“微區(qū)”透反射光譜的探頭。

      典型應(yīng)用領(lǐng)域：
       納米線熒光   納米線通常具有小于 1μm 的直徑，并且不同直徑納米線中所能支持的光學模式也不同，因此為了分析每根納米線的發(fā)光特性，需要能夠在微米級尺度準確地測量光譜。
       微球散射   不同數(shù)量微球組成的團簇，其光學模式也不同，需要能夠?qū)⒐庾V測量區(qū)域定位在團簇之內(nèi)。
       MEMS 器件   MEMS 器件具有微米級尺寸，需要能夠采集器件內(nèi)局部特征位置的光譜。
      
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做為一種先進顯示應(yīng)用價值的功能材料，廣視角光譜性能是先進顯示材料很重要的一個指標之一。



過度加熱將損傷病灶周圍正常組織細胞，因此發(fā)展高空間分辨的微觀溫度監(jiān)控方法是提高光熱治療精度的關(guān)鍵因素。



文章報道了一種基于非對稱 Fabry-Perot 共振腔的，可低成本制造的，并可實現(xiàn)單片集成的干涉式全色印刷術(shù)。



2017年7月，一篇發(fā)表于ACS Nano 的文章首次報道了一種室溫下寬帶可調(diào)的全無機銫鹵化鉛亞微米球單模激光器。