91儀器信息網(wǎng)訊 2月25日，日立高新技術(shù)公司（TSE：8036）的全資子公司日立分析儀器（HitachiHigh-Tech Analytical Science）推出新型FT160XRF光譜儀，該分析儀提供三種基座配置選擇方案用于納米級鍍層分析。日立分析儀器主要致力于分析和測量儀器的制造和銷售。

FT160 XRF鍍層分析儀

隨著新型FT160系列在日本率先推出，日立分析儀器目前已在中國、北美、歐洲、中東和非洲銷售FT160系列鍍層分析儀并提供相關(guān)服務。

日立推出的該款最新一代鍍層分析儀旨在應對測量小型部件上的超薄鍍層所帶來的挑戰(zhàn)。FT160是一種臺式EDXRF（能量色散x射線熒光）分析儀，配有強大的軟件和硬件，能實現(xiàn)高樣品處理量，且任何操作員均能獲取高質(zhì)量結(jié)果。由于FT160系列專為在生產(chǎn)質(zhì)量控制中發(fā)揮關(guān)鍵作用而設(shè)計，因此其可在半導體、電路板和電子元件市場中被廣泛應用。

▋測量納米級的鍍層

FT160配置高端部件，可以提供精細結(jié)構(gòu)上的超薄鍍層的元素分析。毛細管聚焦光學鏡能聚焦直徑小于30 m的X射線束，從而在樣品上集中更大強度且其可測量的部件尺寸小于傳統(tǒng)準直器可測量的部件尺寸。高靈敏度、高分辨率日立分析儀器硅漂移探測器（SDD）充分利用光學系統(tǒng)測量微電子和半導體上的納米級鍍層。高精度樣品臺和具備數(shù)字變焦功能的高清攝像頭可快速定位樣件，以提高樣品處理量。

日立分析儀器產(chǎn)品經(jīng)理Matt Kreiner表示：“在之前產(chǎn)品的成功基礎(chǔ)上所推出的FT160能提供重新設(shè)計的照明布置以提高零件的可視性并便于定位，且新的配置選擇方案可確保特定應用的最佳性能并為繁忙的測試實驗室提供新的緊湊型基座配置要素。該產(chǎn)品系列硬件和分析能力的不斷發(fā)展使我們的客戶更容易在快速發(fā)展的微電子領(lǐng)域控制生產(chǎn)。FT160是對我們鍍層儀器綜合系列的補充，這歸功于日立45多年的XRF鍍層分析儀的開發(fā)經(jīng)驗?！?/p>

FT160系列現(xiàn)已允許訂購?？赏ㄟ^點擊文末日立分析儀器廠商展位聯(lián)系日立分析儀器。

▋關(guān)于日立分析儀器

日立分析儀器是日立高新技術(shù)集團于2017年7月創(chuàng)立的全球性公司。其總部位于英國牛津，其在芬蘭、德國和中國從事研發(fā)和裝配業(yè)務并在全球多個國家開展銷售和支持業(yè)務。其產(chǎn)品系列包括：

□ FT160、FT110和X-Strata微焦斑XRF光譜儀，能測量單層和多層鍍層（包括合金層）的鍍層厚度，可成為質(zhì)量控制或過程控制程序以及研究實驗室的專用分析儀。

□ EA1000、EA6000和HM1000 RoHS（有害物質(zhì)限制指令）分析儀適用于RoHS 1和RoHS 2測試，使用便捷，能夠很好適應限制指令的變化。

□ DSC7000X、DSC7020、NEXT STA、STA7000、TMA7100、TMA7300和DMA7100系列熱分析儀已經(jīng)過優(yōu)化，可檢測最小反應并使其可視化，同時具有堅固耐用、可靠且易于使用的特點。

□ EA8000 x射線顆粒污染物分析儀用于鋰離子電池生產(chǎn)中快速有效的質(zhì)量控制。

□ Lab-X5000和X-Supreme8000臺式XRF光譜儀可為石油、木材處理、水泥、礦物、采礦和塑料等多種行業(yè)提供質(zhì)量保證和過程控制服務。

□ OE750、PMI-MASTER、FOUNDRY-MASTER和TEST-MASTER系列分析儀被世界各地的行業(yè)用于進行快速和精確的金屬分析。該儀器采用直讀光譜分析技術(shù)，可測定所有重要元素，能提供低檢測限和高精度，包括鋼中的碳和幾乎所有金屬中所有技術(shù)相關(guān)的主要和痕量元素。

□ X-MET8000手持式光譜儀被成千上萬的企業(yè)用于通過XRF精密技術(shù)進行簡單、快速和無損的合金分析、廢金屬分揀和金屬牌號篩選。

□ 采用LIBS激光技術(shù)的Vulcan手持式光譜儀只需一秒即可識別金屬合金，是世界上分析速度最快的分析儀之一。這對需要處理大量金屬的企業(yè)而言非常有利。