91儀器信息網(wǎng) 政策標準納米材料可以分為納米顆粒、納米纖維和納米片，針對納米顆粒的尺寸測量，我們已經(jīng)建立了詳細的基于原子力顯微術的測量方法，用于規(guī)定通過原子力顯微鏡測量納米顆粒高度來表征納米顆粒尺寸的方法，而針對二維納米材料的高度測量方法，目前國際和國內(nèi)都沒有相關標準。
  為了應對我國科研和生產(chǎn)部門的需要，規(guī)范我國此類檢測工作，指導日常的測試工作，國家納米科學中心、納米技術及應用國家工程研究中心、北京粉體技術協(xié)會等單位共同起草了《表面化學分析 原子力顯微術 二硫化鉬片層材料厚度測量方法》。
  據(jù)了解，該標準制定是由中國科學院提出，全國微束分析標準化技術委員會歸口，按照GB/T 1.1-2009給出的規(guī)則起草的。經(jīng)過不斷的試驗與研究，標準題目也從最初的《利用原子力顯微鏡測量納米顆粒粒徑大小的標準方法》演變成為《表面化學分析 原子力顯微術 二硫化鉬片層材料厚度測量方法》，并將標準范圍定為二維納米材料中常用的二硫化鉬片層材料，附錄增加了樣品制備過程及測量數(shù)據(jù)不確定度分析。在標準起草工作組進行了大量的實驗驗證工作后，于近日面向社會發(fā)布了標準的征求意見稿。
  閱讀標準后可知，《表面化學分析 原子力顯微術 二硫化鉬片層材料厚度測量方法》的內(nèi)容包括有范圍、規(guī)范性引用文件、術語和定義、方法概述、儀器和輔助設備、試劑與實驗材料、樣品制備、測量步驟及結(jié)果、不確定度評定、測量報告以及資料性附錄，規(guī)定了利用原子力顯微術測量二硫化鉬片層材料厚度的測量方法。
  通過標準可知，試驗所需的儀器有原子力顯微鏡、等離子清洗機、超聲清洗儀、移液槍、壓縮氣體等，標準不僅對樣品制備的襯底處理、二硫化鉬片層材料的轉(zhuǎn)移以及待測樣品的存放步驟進行了詳細介紹，還對測量步驟的設備校準、環(huán)境條件、開機準備、探針的選擇、成像模式的選擇、掃描范圍的設定、圖像的獲取與處理等步驟進行了論述。
  此外，標準在起草過程中還引用了GB/T 27760《利用Si(111)晶面原子臺階對原子力顯微鏡亞納米高度測量進行校準的方法》、GB/T 33714《納米技術 納米顆粒尺寸測量 原子力顯微術》等標準文件。小編也相信隨著本標準的建立和實施，將有助于增進我國原子力顯微鏡技術在納米材料測量領域的發(fā)展，引導和規(guī)范我國原子力顯微鏡分析技術。
  附件：《表面化學分析 原子力顯微術 二硫化鉬片層材料厚度測量方法》征求意見稿