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更新時間：2018-12-06

切割機，金剛石線切割機，研磨拋光機，提拉涂膜機，旋轉涂膜機，真空鍍膜機，管式爐，箱式爐，電池實驗研究設備，清洗機

沈陽科晶自動化設備有限公司是由畢業(yè)于美國麻省理工學院的江曉平博士于2000年5月創(chuàng)建。與合肥科晶材料技術有限公司、深圳市科晶智達科技有限公司同屬于科晶聯(lián)盟。自率先臺SYJ-150低速金剛石切割機誕生以來，沈陽科晶便開始了以趕超國外同行、引領材料分析設備潮流為目標的發(fā)展歷程。時至今日，已經(jīng)擁有涵蓋材料切割、研磨、拋光、涂膜、鍍膜、混合、壓軋、燒結、分析等領域以及相關耗材的上百種產(chǎn)品，可以滿足晶體、陶瓷、玻璃、巖相、礦樣、金屬材料、耐火材料、復合材料的制備分析的全套需要。

沈陽科晶立足國內(nèi)市場實際情況，以提供Z為實用的產(chǎn)品為己任。產(chǎn)品的質量、精度在向國外知名企業(yè)看齊的基礎上，產(chǎn)品的價格定位卻僅僅是其幾分之一。卓越的性價比不僅吸引了眾多國內(nèi)客戶，而且令挑剔的外國客商也稱贊不已，產(chǎn)品遠銷于印度、馬來西亞、土耳其、波蘭、突尼斯、澳大利亞等國家，并大量出口于美國。

沈陽科晶一直致力于高等院校、研究所、生產(chǎn)企業(yè)的科研服務，即產(chǎn)品定位于研究市場，主要面向廣大等院高校、科研機構、實驗室以及工廠的小規(guī)模生產(chǎn)。多年以來，已與全國眾多高校、研究院所建立了良好的合作、服務關系。其中北京大學、清華大學、浙江大學、哈爾濱工業(yè)大學、東北大學等知名高校，中國科學院金屬研究所、上海硅酸鹽研究所、中國科學院地質與地球物理研究所等科研機構，中國航天工業(yè)集團公司、中國船舶重工集團公司、攀鋼集團有限公司等著名企業(yè)都是長期合作的榮譽客戶。

沈陽科晶為了更好地服務客戶，專門設立了開放式專業(yè)實驗室，配備了優(yōu)秀的專業(yè)技術人員。在這里，不僅可以提供親身的產(chǎn)品體驗環(huán)境，而且還可得到專業(yè)人員的操作指導。開設以來，制作的樣品達上千件，接待來訪客參觀戶百余次，其中包括多次外國友人的來訪。在此，沈陽科晶全體員工誠摯地歡迎您的到來，并希望您能提出寶貴的意見與建議。

此外，沈陽科晶擁有優(yōu)質、高效、專業(yè)的銷售咨詢、售后服務團隊，能夠為每一位客戶提供較好的采購建議與方案、Z完善的使用指導與售后服務。使每一位客戶的需求得到較大的滿足是沈陽科晶每個員工不懈努力的目標。

沈陽科晶一路走過的歷程，是為我國材料研究事業(yè)全力貢獻的歷程，是以實際行動將自己打造成國內(nèi)材料分析設備品牌的歷程，是與國外同行不斷縮小差距的歷程，是與廣大客戶相扶相持的成長歷程。雖一路充滿坎坷與荊棘，但堅持不懈的沈陽科晶人仍全力以赴的前行。秉承這份堅持，相信在不久的將來，沈陽科晶也將會成為國際市場上專業(yè)的、杰出的材料分析設備品牌，沈陽科晶的明天會更加燦爛輝煌。

工欲善其事，必先利其器。

您正在為選擇合適的樣品制備設備而苦惱嗎？

我們可提供材料切割、研磨、拋光、涂膜、鍍膜、混合、壓軋、燒結、分析等領域的設備！

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我們擁有同類型中Z優(yōu)性價比的產(chǎn)品！

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歡迎來到沈陽科晶，我們是國內(nèi)實驗室樣品制備設備領域的專家！

TEM-APT  Holder電鏡連用三維原子探針樣品桿可與原子探針、透射電鏡配套使用，有效地使原子探針和透射電鏡檢測結合在一起，使樣品的觀察和分析更加方便。TEM-APT  Holder電鏡連用三維原子探針樣品桿用來夾持透射電鏡樣品放到透射電鏡下進行觀察，可以360 旋轉樣品，透射電鏡配套的樣品桿往往功能單一，這款樣品桿可以滿足客戶的多種的需要，適合大專院校及科研院所中與透射電鏡配套使用。進口樣品桿往往價格不菲，本公司的樣品桿不僅功能齊全且結實耐用，價格也遠低于進口設備的價格。

產(chǎn)品型號

TEM-APT Holder電鏡連用三維原子探針樣品桿

主要特點

1）TEM-APT樣品桿：三維原子探針（3DAP）和透射電鏡（TEM）是世界上尤其先進的原子尺度表征手段。

2）三維原子探針的結果不是 可視 的，需要通過數(shù)據(jù)重構再現(xiàn)。透射電鏡能提供 直接可視 的實驗結果，但是結果是二維投影的，并且很難獲得三維的單個原子尺度的成分信息?；谒鼈兏髯缘膬?yōu)勢，我們開發(fā)了3DAP-TEM樣品桿，可以將原子探針（APT）試樣直接加載到TEM樣品桿上。

產(chǎn)品結構

產(chǎn)品作用

（1）在TEM中直接觀察APT試樣上是否有令人感興趣的區(qū)域，使樣品檢測工作效率增加；

（2）通過大角度傾轉試樣，獲得不同角度試樣的形貌結構特征，為3DAP數(shù)據(jù)重構提供幫助；

（3）TEM觀察過后的試樣可以直接移到APT中繼續(xù)實驗。將APT結果與TEM圖像相結合，有 助于優(yōu)化重構參數(shù)，并使3DAP結果更具有可信度。

（4）在原子水平上獲得了樣品的組成和結構。

產(chǎn)品性能

（1）接受錐形電化學拋光的樣品或聚焦離子束（FIB）制備的樣品柱。

（2）允許360 的圖像采集和層析圖像的重建，不會因楔子缺失而造成信息損失。

（3）樣品可以很容易地從支架上取出，然后直接轉移到APT機上進行進一步表征。

（4）兼容所有幾何形狀的極片間隙。