2017年3月28日，國際電工委員會（IEC）發(fā)布兩個電子電電器產(chǎn)品中有害物質測試標準：IEC 62321-7-2：2017 通過比色法測定聚合物和電子材料中的六價鉻和IEC 62321-8：2017 通過GC-MS或Py/TD-GC MS測定聚合物中的鄰苯二甲酸酯。

IEC 62321是國際電工委員會(IEC)制定的關于電子電氣產(chǎn)品中限用有害物質的測試方法。IEC 62321: 2008六種管控物質（鉛，汞，鎘，六價鉻，多溴聯(lián)苯，多溴聯(lián)苯醚）的測定，其中包括了，定義，測試方法總述，機械制樣，XRF掃描方法以及各物質的具體測試方法。2013年5月17日開始，IEC發(fā)布新的方法，將IEC 62321: 2008拆分為一系列標準，同時導入了新的測試方法或儀器。

本次更新的 IEC 62321-7-2 通過比色法測定聚合物和電子材料中的六價鉻中，采用有機溶劑代替熱水提取法從樣品中提取六價鉻。IEC 62321-8通過GC-MS或Py/TD-GC MS測定聚合物中的鄰苯二甲酸酯新增了針對7項鄰苯的兩種測試方法。

2018年，IEC 將更新其它三項標準：IEC 62321-3-2 2.0 使用C-IC對聚合物和電子產(chǎn)品中的氟、溴、氯進行篩選；IEC 62321-3-3 1.0 使用PY-GC-MS、TD-GC-MS對聚合物中的多溴聯(lián)苯、多溴二苯醚 、特定鄰苯二甲酸鹽進行篩選以及IEC 62321-10 1.0 通過GC-MS測定聚合物和電子材料中的多環(huán)芳烴。

 

目前所有已更新的IEC 62321標準及其變化如下：

編號名稱主要變化IEC 62321-1簡介和概述基本一致IEC 62321-2樣品的拆卸、拆解和機械拆分基本一致IEC 62321-3-1電子產(chǎn)品中的鉛、汞、鎘、總鉻和總溴的篩選基本一致IEC 62321-3-2使用C-IC對聚合物和電子產(chǎn)品中的總溴進行篩選新增C-IC方法IEC 62321-4使用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS測定聚合物、金屬和電子材料中的汞新增熱解析金汞齊化系統(tǒng)方法IEC 62321-5使用AAS、AFS、ICP-OES和ICP-MS測定聚合物和電子材料中的汞、鎘、鉛和鉻，以及金屬中的鎘和鉛總鉻的測試要求，新增檢測方法AFSIEC 62321-6使用GC-MS、IAMS和HPLC測定聚合物和電子材料中的多溴聯(lián)苯和多溴二苯醚新增檢測方法AFS IAMS/HPLCIEC 62321-7-1通過比色法測定金屬無色和有色防腐鍍層中六價鉻對六價鉻結果的陰性陽性判定基準改為小于0.1 g/cm2IEC 62321-7-2通過比色法測定聚合物和電子材料中的六價鉻采用有機溶劑從樣品中提取六價鉻IEC 62321-8通過GC-MS或Py/TD-GC MS測定聚合物中的鄰苯二甲酸酯新增章節(jié)，針對7項鄰苯提出兩種測試方法

 

 C-IC 燃燒離子色譜法

 PY-GC-MS 熱裂解氣相色譜質譜聯(lián)用儀

 IAMS 離子附著質譜法

 TD-GC-MS 熱脫附氣相色譜質譜聯(lián)用儀

 

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