光切法顯微鏡可用測(cè)微目鏡測(cè)出表面不平度平均高度值Rz。按國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),表面光潔度級(jí)別與不平度平均高度值Rz的關(guān)系,如圖所示:
顯微鏡在測(cè)量時(shí),所測(cè)量的表面范圍不少于五個(gè)波峰。
為使測(cè)量能正確而迅速地進(jìn)行,要求按圖所列數(shù)據(jù)選擇物鏡。
光切法顯微鏡可用測(cè)微目鏡測(cè)出表面不平度平均高度值Rz。按國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),表面光潔度級(jí)別與不平度平均高度值Rz的關(guān)系,如圖所示:
顯微鏡在測(cè)量時(shí),所測(cè)量的表面范圍不少于五個(gè)波峰。
為使測(cè)量能正確而迅速地進(jìn)行,要求按圖所列數(shù)據(jù)選擇物鏡。