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產(chǎn)品簡介 品牌 其他品牌 價格區(qū)間 面議 產(chǎn)地類別 國產(chǎn)     高分辨率波前分析儀/波前傳感器/波前相差儀是基于四波橫向剪切干涉技術(shù)。SID4系列波前分析儀相較傳統(tǒng)的夏克-哈特曼波前探測器具有高分辨率、消色差、高靈敏度、高動態(tài)檢測范圍、操作簡便等獨特的優(yōu)勢。
詳細(xì)介紹

高分辨率波前分析儀/波前傳感器/波前相差儀

400x300高分辨率、500um高動態(tài)范圍、高性價比、同時檢測波前與M^2波前傳感器！

 

 

關(guān)鍵詞：波前傳感器、波前分析儀、波前像差儀、傳感器、波前測試儀、波前探測器、激光波前分析儀、哈特曼波前分析儀、虹膜定位、哈特曼波前傳感器、波前象差、高分辨率波前分析儀、波前測量儀、激光光束及波前分析儀、夏克 哈特曼、鏡頭MTF

 

 

公司自主研發(fā)的波前傳感器是基于四波橫向剪切干涉技術(shù)。SID4系列波前分析儀相較傳統(tǒng)的夏克-哈特曼波前探測器具有高分辨率、消色差、高靈敏度、高動態(tài)檢測范圍、操作簡便等獨特的優(yōu)勢。為波前像差、波前畸變的檢測以及激光光束及波前的測量、分析，眼科虹膜定位波前像差引導(dǎo)等提供了全新的解決方案！波前探測器配套的軟件界面友好，可直觀的輸出高分辨率相位圖和光束強(qiáng)度分布圖。 

 

高分辨率波前分析儀/波前傳感器/波前相差儀

 

波前傳感器生產(chǎn)廠家具有雄厚的技術(shù)研發(fā)實力，能為客戶提供的各種自適應(yīng)光學(xué)系統(tǒng)OA-SYS(Adaptive Optics Loops)，制定個性化解決方案?？筛鶕?jù)客戶的應(yīng)用需求，為客戶推薦zui合適的SID4波前傳感器、可變形鏡或空間光調(diào)制器、自適應(yīng)光學(xué)系統(tǒng)操作軟件等。

 

 

圖1 波前校正前與校正后對比

 

波前探測器依據(jù)其四波橫向剪切干涉技術(shù)，對哈特曼掩模技術(shù)進(jìn)行了大的升級、改進(jìn)。波前傳感器將400x300的超高分辨率和500um的超大動態(tài)范圍完美結(jié)合在了一起?？梢詽M足不同的客戶的應(yīng)用需求，可對激光光束進(jìn)行光強(qiáng)、位相、PSF（點擴(kuò)散函數(shù)）、MTF（調(diào)制傳遞函數(shù)）、OTF（光學(xué)傳遞函數(shù)）、波前像差、M^2等進(jìn)行實時、簡便、快速的測量。

 

 

 

 

*部 產(chǎn)品介紹

 

 

SID4 UV-HR高分辨紫外波前傳感器

 

公司將 SID4的波前測量波長范圍擴(kuò)展到190nm-400nm。SID4 UV-HR是一款適用于紫外波段的高分辨率波前傳感器,非常適用于光學(xué)元件測量（例如印刷、半導(dǎo)體等等）和表面檢測（半導(dǎo)體晶片檢測等）。

 

特點：

u 高分辨率（250x250）

u 通光孔徑大（8.0mmx8.0mm）

u 覆蓋紫外光譜

u 靈敏度高（0.5um）

u 優(yōu)化信噪比

 

 

圖2 SID4-UV波前分析儀

 

 

SID4 波前傳感器

 

 

可用于400nm-1000nm 的激光的波前位相、強(qiáng)度分布，波前像差，激光的M2，澤尼克參數(shù)等進(jìn)行實時的測量及參數(shù)輸出。

特點：

 波長范圍：400-1100nm

 分辨率高（160x120）

 消色差

 測量穩(wěn)定性高

 對震動不敏感

 操作簡單

 結(jié)構(gòu)緊湊，體積小

 可用筆記本電腦控制

 

 

 

圖3 SID4位相檢測

 

 

可用于檢測各種透鏡，光學(xué)系統(tǒng)的檢測，可以對透鏡、光學(xué)系統(tǒng)的進(jìn)行實時的PSF（點擴(kuò)散函數(shù)）、MTF（調(diào)制傳遞函數(shù)）、OTF（光學(xué)傳遞函數(shù)）、波前像差測量及參數(shù)輸出。相對于傳統(tǒng)的透鏡檢測設(shè)備像：傳函儀、干涉儀，具有操作簡便，測量精度高，參數(shù)輸出方便等優(yōu)點，正在被越來越多的客戶推崇。

 

 

 

特點：

u 波長范圍：400-1100nm

u 高性能的相機(jī)，信噪比高

u 實時測量，立即給出整個物體表面的信息（120000個測量點）

u 曝光時間極短,保證動態(tài)物體測量

u 操作簡單

 

 

 

圖4 SID4-HR

 

 

圖5 SID4-HR傳遞函數(shù)檢測

 

 

 

SID4 NIR 波前分析儀

 

 

主要針對1550 nm（1.5um-1.6um）激光的檢測，具有分辨率高高靈敏度、高動態(tài)范圍、操作簡便等獨特的優(yōu)勢。可用于光學(xué)測量，SID4 NIR是測量紅外物體和紅外透鏡像差、PSF、MTF和焦距及表面質(zhì)量的理想工具。

 

特點：

 高分辨率（160x120） 

 快速測量 

 性價比高

 絕對測量

 對振動不敏感

 

 

 

圖6 SID4 NIR激光波前檢測

 

 

SID4 DWIR 波前儀

 

 

具有寬波段測量的特點?？梢詫崟r的檢測3-5um和8-14um的波前位相，強(qiáng)度分布等響應(yīng)的波前信息?？梢院芎玫臐M足紅外波段客戶的波前檢測需求。

 

特點：

u 光學(xué)測量：SID4 DWIR是測量紅外物體特性（熱成像和安全視覺）或紅外透鏡（CO2激光器）的理想工具，輸出結(jié)果包括MTF，PSF，像差，表面質(zhì)量和透鏡焦距。

u 光束測量：（CO2激光器，紅外OPO激光光源等等）SID4 DWIR提供詳盡的光束特性參數(shù)：像差，M2，光強(qiáng)分布，光束特性等

u 高分辨率（96x72）

u 可實現(xiàn)絕對測量

u 可覆蓋中紅外和遠(yuǎn)紅外波段 大數(shù)值孔徑測量，無需額外中轉(zhuǎn)透鏡

u 快速測量 對振動不敏感

u 可實現(xiàn)離軸測量

u 性價比高

 

 

 

 

 

圖7SID4 DWIR

 

 

 

 

SID4產(chǎn)品型號參數(shù)匯總

 

 

型號

SID4

SID4-HR

SID4 UV-HR

SID4 NIR

SID4 DWIR

SID4-SWIR

孔徑尺寸（mm2）

3.6 x4.8

8.9 x11.8

8.0 x8.0

3.6x4.8

13.44x10.08

9.6x7.68

空間分辨率(um)

29.6

29.6

32

29.6

140

120

測量點數(shù)

160x120

300x400

250x250

160x120

96x72

80x64

波長范圍

350-1100 nm

350-1100 nm

190-400 nm

1.5-1.6 m

3-5 m 8-14 m

0.9- 1.7 m

精準(zhǔn)度

10nm RMS

10nm RMS

10nm RMS

15nm RMS

75nm RMS

10nm RMS

動態(tài)范圍

100 m

500 m

200um

100 m

/

~100 m

采樣速度

60 fps

10 fps

30 fps

60 fps

50 fps

60fps

處理速度

10fps

3 fps

1fps

10fps

20 Hz

10Hz

 

 

 

 

 

第二部 控制軟件

 

 

SID4波前分析儀控制軟件

 

 

SID4波前分析儀控制軟件與SID4 波前傳感器配套提供的是一款完整的分析軟件，其集成了高分辨率的相位圖與強(qiáng)度分布圖，測量光強(qiáng)分布和波前信息。

 

 

借助Labview和C++ 可編程模塊數(shù)據(jù)庫（軟件二次開發(fā)工具包），客戶能夠根據(jù)自身的需要編寫各種相位測量與編譯模塊。

 

 

Adaptive Optics Loops將SID4 Wavefront Sensor結(jié)合您的應(yīng)用，選配合適的可變形鏡或相位調(diào)制器，提供整套的自適應(yīng)光學(xué)系統(tǒng)。減小任何一個光學(xué)系統(tǒng)的相差從來都不是簡單的，我們的產(chǎn)品能為激光光束和成像系統(tǒng)帶來更可靠，高精度的解決方案。

 

 

 

圖8 SID4控制界面

 

 

SID4光學(xué)測量軟件Kaleo

 

基于剪切干涉的波前傳感器與專門設(shè)計的光學(xué)測量軟件Kaleo結(jié)合，可以測量球面鏡和非球面鏡的像差及MTF等信息。只需要幾秒鐘，我們的儀器為您呈現(xiàn)絕大部分的光學(xué)參數(shù)，如焦距，光腰，MTF，像差，Zernike系數(shù)，曲率半徑，PSF等。

 

 

 

 

第三部 與傳統(tǒng)哈特曼波前分析儀比較

 

 

 

與傳統(tǒng)哈特曼波前傳感器測量結(jié)果對比：

 

 

 

 

 

 

技術(shù)參數(shù)對比：

 

 

 

PHASICS

Shack-Hartmann

區(qū)別

技術(shù)

剪切干涉

微透鏡陣列

PHASICS投放市場時，已經(jīng)申請技術(shù)，是對夏克-哈特曼技術(shù)的升級

重建方式

傅里葉變換

分區(qū)或模式法

夏克-哈特曼波前探測器，局域?qū)?shù)以微透鏡單元區(qū)域的平均值來近似，誤差大

強(qiáng)度

對強(qiáng)度變化不敏感

對強(qiáng)度變化靈敏

PHASICS測量精度高，波前測量不依賴于強(qiáng)度水平

校準(zhǔn)

用針孔校準(zhǔn)、方便快捷

安裝困難，需要精密的調(diào)節(jié)臺

PHASICS使用方便

取樣點

SID4-HR達(dá)300x400測量點

128X128測量點（多個微透鏡）

PHASICS具有更高的分辨率

數(shù)值孔徑

NA：0.5

NA：0.1

PHASICS動態(tài)范圍更高

分辨率

29.6 m

115 m

PHASICS具有更高的空間分辨率

測量精度

2nm RMS

5nm RMS

PHASICS更好的測量精度

獲取頻率

60fps

30fps

PHASICS獲取速度快

處理頻率

10Hz

30Hz

PHASICS可滿足大部分處理要求

消色差

無需對每個波長進(jìn)行校準(zhǔn)

需要在每個波長處校正

PHASICS更靈活，可以測試寬波段，而不需要校準(zhǔn)

 

 

 

 

第四部 應(yīng)用領(lǐng)域

 

 

 激光、天文、顯微、眼科等復(fù)雜自適應(yīng)光學(xué)系統(tǒng)波前像差檢測

 激光光束性能、波前像差、M^2、強(qiáng)度等的檢測

 紅外、近紅外探測

 平行光管/望遠(yuǎn)鏡系統(tǒng)的檢測與裝調(diào)

 衛(wèi)星遙感成像、生物成像、熱成像領(lǐng)域

 球面、非球面光學(xué)元器件檢測 (平面, 球面, 透鏡)

 虹膜定位像差引導(dǎo)

 大口徑高精度光學(xué)元器件檢測

 激光通信領(lǐng)域

 航空航天領(lǐng)域

 

以上信息由企業(yè)自行提供，信息內(nèi)容的真實性、準(zhǔn)確性和合法性由相關(guān)企業(yè)負(fù)責(zé)，91化工儀器網(wǎng)對此不承擔(dān)任何保證責(zé)任。
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