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產(chǎn)品簡介 品牌 其他品牌 價格區(qū)間 面議 產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 高分辨率波前分析儀/波前傳感器/波前相差儀是基于四波橫向剪切干涉技術(shù)。SID4系列波前分析儀相較傳統(tǒng)的夏克-哈特曼波前探測器具有高分辨率、消色差、高靈敏度、高動態(tài)檢測范圍、操作簡便等獨特的優(yōu)勢。
詳細(xì)介紹
高分辨率波前分析儀/波前傳感器/波前相差儀
400x300高分辨率、500um高動態(tài)范圍、高性價比、同時檢測波前與M^2波前傳感器!
關(guān)鍵詞:波前傳感器、波前分析儀、波前像差儀、傳感器、波前測試儀、波前探測器、激光波前分析儀、哈特曼波前分析儀、虹膜定位、哈特曼波前傳感器、波前象差、高分辨率波前分析儀、波前測量儀、激光光束及波前分析儀、夏克 哈特曼、鏡頭MTF
公司自主研發(fā)的波前傳感器是基于四波橫向剪切干涉技術(shù)。SID4系列波前分析儀相較傳統(tǒng)的夏克-哈特曼波前探測器具有高分辨率、消色差、高靈敏度、高動態(tài)檢測范圍、操作簡便等獨特的優(yōu)勢。為波前像差、波前畸變的檢測以及激光光束及波前的測量、分析,眼科虹膜定位波前像差引導(dǎo)等提供了全新的解決方案!波前探測器配套的軟件界面友好,可直觀的輸出高分辨率相位圖和光束強(qiáng)度分布圖。
高分辨率波前分析儀/波前傳感器/波前相差儀
波前傳感器生產(chǎn)廠家具有雄厚的技術(shù)研發(fā)實力,能為客戶提供的各種自適應(yīng)光學(xué)系統(tǒng)OA-SYS(Adaptive Optics Loops),制定個性化解決方案??筛鶕?jù)客戶的應(yīng)用需求,為客戶推薦zui合適的SID4波前傳感器、可變形鏡或空間光調(diào)制器、自適應(yīng)光學(xué)系統(tǒng)操作軟件等。
圖1 波前校正前與校正后對比
波前探測器依據(jù)其四波橫向剪切干涉技術(shù),對哈特曼掩模技術(shù)進(jìn)行了大的升級、改進(jìn)。波前傳感器將400x300的超高分辨率和500um的超大動態(tài)范圍完美結(jié)合在了一起??梢詽M足不同的客戶的應(yīng)用需求,可對激光光束進(jìn)行光強(qiáng)、位相、PSF(點擴(kuò)散函數(shù))、MTF(調(diào)制傳遞函數(shù))、OTF(光學(xué)傳遞函數(shù))、波前像差、M^2等進(jìn)行實時、簡便、快速的測量。
*部 產(chǎn)品介紹
SID4 UV-HR高分辨紫外波前傳感器
公司將 SID4的波前測量波長范圍擴(kuò)展到190nm-400nm。SID4 UV-HR是一款適用于紫外波段的高分辨率波前傳感器,非常適用于光學(xué)元件測量(例如印刷、半導(dǎo)體等等)和表面檢測(半導(dǎo)體晶片檢測等)。
特點:
u 高分辨率(250x250)
u 通光孔徑大(8.0mmx8.0mm)
u 覆蓋紫外光譜
u 靈敏度高(0.5um)
u 優(yōu)化信噪比
圖2 SID4-UV波前分析儀
SID4 波前傳感器
可用于400nm-1000nm 的激光的波前位相、強(qiáng)度分布,波前像差,激光的M2,澤尼克參數(shù)等進(jìn)行實時的測量及參數(shù)輸出。
特點:
波長范圍:400-1100nm
分辨率高(160x120)
消色差
測量穩(wěn)定性高
對震動不敏感
操作簡單
結(jié)構(gòu)緊湊,體積小
可用筆記本電腦控制
圖3 SID4位相檢測
可用于檢測各種透鏡,光學(xué)系統(tǒng)的檢測,可以對透鏡、光學(xué)系統(tǒng)的進(jìn)行實時的PSF(點擴(kuò)散函數(shù))、MTF(調(diào)制傳遞函數(shù))、OTF(光學(xué)傳遞函數(shù))、波前像差測量及參數(shù)輸出。相對于傳統(tǒng)的透鏡檢測設(shè)備像:傳函儀、干涉儀,具有操作簡便,測量精度高,參數(shù)輸出方便等優(yōu)點,正在被越來越多的客戶推崇。
特點:
u 波長范圍:400-1100nm
u 高性能的相機(jī),信噪比高
u 實時測量,立即給出整個物體表面的信息(120000個測量點)
u 曝光時間極短,保證動態(tài)物體測量
u 操作簡單
圖4 SID4-HR
圖5 SID4-HR傳遞函數(shù)檢測
SID4 NIR 波前分析儀
主要針對1550 nm(1.5um-1.6um)激光的檢測,具有分辨率高高靈敏度、高動態(tài)范圍、操作簡便等獨特的優(yōu)勢。可用于光學(xué)測量,SID4 NIR是測量紅外物體和紅外透鏡像差、PSF、MTF和焦距及表面質(zhì)量的理想工具。
特點:
高分辨率(160x120)
快速測量
性價比高
絕對測量
對振動不敏感
圖6 SID4 NIR激光波前檢測
SID4 DWIR 波前儀
具有寬波段測量的特點??梢詫崟r的檢測3-5um和8-14um的波前位相,強(qiáng)度分布等響應(yīng)的波前信息??梢院芎玫臐M足紅外波段客戶的波前檢測需求。
特點:
u 光學(xué)測量:SID4 DWIR是測量紅外物體特性(熱成像和安全視覺)或紅外透鏡(CO2激光器)的理想工具,輸出結(jié)果包括MTF,PSF,像差,表面質(zhì)量和透鏡焦距。
u 光束測量:(CO2激光器,紅外OPO激光光源等等)SID4 DWIR提供詳盡的光束特性參數(shù):像差,M2,光強(qiáng)分布,光束特性等
u 高分辨率(96x72)
u 可實現(xiàn)絕對測量
u 可覆蓋中紅外和遠(yuǎn)紅外波段 大數(shù)值孔徑測量,無需額外中轉(zhuǎn)透鏡
u 快速測量 對振動不敏感
u 可實現(xiàn)離軸測量
u 性價比高
圖7SID4 DWIR
SID4產(chǎn)品型號參數(shù)匯總
型號
SID4
SID4-HR
SID4 UV-HR
SID4 NIR
SID4 DWIR
SID4-SWIR
孔徑尺寸(mm2)
3.6 x4.8
8.9 x11.8
8.0 x8.0
3.6x4.8
13.44x10.08
9.6x7.68
空間分辨率(um)
29.6
29.6
32
29.6
140
120
測量點數(shù)
160x120
300x400
250x250
160x120
96x72
80x64
波長范圍
350-1100 nm
350-1100 nm
190-400 nm
1.5-1.6 m
3-5 m 8-14 m
0.9- 1.7 m
精準(zhǔn)度
10nm RMS
10nm RMS
10nm RMS
15nm RMS
75nm RMS
10nm RMS
動態(tài)范圍
100 m
500 m
200um
100 m
/
~100 m
采樣速度
60 fps
10 fps
30 fps
60 fps
50 fps
60fps
處理速度
10fps
3 fps
1fps
10fps
20 Hz
10Hz
第二部 控制軟件
SID4波前分析儀控制軟件
SID4波前分析儀控制軟件與SID4 波前傳感器配套提供的是一款完整的分析軟件,其集成了高分辨率的相位圖與強(qiáng)度分布圖,測量光強(qiáng)分布和波前信息。
借助Labview和C++ 可編程模塊數(shù)據(jù)庫(軟件二次開發(fā)工具包),客戶能夠根據(jù)自身的需要編寫各種相位測量與編譯模塊。
Adaptive Optics Loops將SID4 Wavefront Sensor結(jié)合您的應(yīng)用,選配合適的可變形鏡或相位調(diào)制器,提供整套的自適應(yīng)光學(xué)系統(tǒng)。減小任何一個光學(xué)系統(tǒng)的相差從來都不是簡單的,我們的產(chǎn)品能為激光光束和成像系統(tǒng)帶來更可靠,高精度的解決方案。
圖8 SID4控制界面
SID4光學(xué)測量軟件Kaleo
基于剪切干涉的波前傳感器與專門設(shè)計的光學(xué)測量軟件Kaleo結(jié)合,可以測量球面鏡和非球面鏡的像差及MTF等信息。只需要幾秒鐘,我們的儀器為您呈現(xiàn)絕大部分的光學(xué)參數(shù),如焦距,光腰,MTF,像差,Zernike系數(shù),曲率半徑,PSF等。
第三部 與傳統(tǒng)哈特曼波前分析儀比較
與傳統(tǒng)哈特曼波前傳感器測量結(jié)果對比:
技術(shù)參數(shù)對比:
PHASICS
Shack-Hartmann
區(qū)別
技術(shù)
剪切干涉
微透鏡陣列
PHASICS投放市場時,已經(jīng)申請技術(shù),是對夏克-哈特曼技術(shù)的升級
重建方式
傅里葉變換
分區(qū)或模式法
夏克-哈特曼波前探測器,局域?qū)?shù)以微透鏡單元區(qū)域的平均值來近似,誤差大
強(qiáng)度
對強(qiáng)度變化不敏感
對強(qiáng)度變化靈敏
PHASICS測量精度高,波前測量不依賴于強(qiáng)度水平
校準(zhǔn)
用針孔校準(zhǔn)、方便快捷
安裝困難,需要精密的調(diào)節(jié)臺
PHASICS使用方便
取樣點
SID4-HR達(dá)300x400測量點
128X128測量點(多個微透鏡)
PHASICS具有更高的分辨率
數(shù)值孔徑
NA:0.5
NA:0.1
PHASICS動態(tài)范圍更高
分辨率
29.6 m
115 m
PHASICS具有更高的空間分辨率
測量精度
2nm RMS
5nm RMS
PHASICS更好的測量精度
獲取頻率
60fps
30fps
PHASICS獲取速度快
處理頻率
10Hz
30Hz
PHASICS可滿足大部分處理要求
消色差
無需對每個波長進(jìn)行校準(zhǔn)
需要在每個波長處校正
PHASICS更靈活,可以測試寬波段,而不需要校準(zhǔn)
第四部 應(yīng)用領(lǐng)域
激光、天文、顯微、眼科等復(fù)雜自適應(yīng)光學(xué)系統(tǒng)波前像差檢測
激光光束性能、波前像差、M^2、強(qiáng)度等的檢測
紅外、近紅外探測
平行光管/望遠(yuǎn)鏡系統(tǒng)的檢測與裝調(diào)
衛(wèi)星遙感成像、生物成像、熱成像領(lǐng)域
球面、非球面光學(xué)元器件檢測 (平面, 球面, 透鏡)
虹膜定位像差引導(dǎo)
大口徑高精度光學(xué)元器件檢測
激光通信領(lǐng)域
航空航天領(lǐng)域
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