背散射電子探測(cè)器配備晶體閃爍體，具有高靈敏度和高原子序數(shù)分辨率（ 0.1 Z ），極大地提高了成像質(zhì)量。探測(cè)器的檢測(cè)區(qū)域大，在快掃描速度時(shí)依然能保證高質(zhì)量采集圖像。
相對(duì)傳統(tǒng)半導(dǎo)體材質(zhì)，閃爍體探測(cè)器具有明顯的優(yōu)勢(shì)：成像速度高達(dá) 20 ns / pixel溫度穩(wěn)定性（無(wú)信號(hào)漂移）低噪聲，超清晰成像對(duì)樣品倉(cāng)相機(jī)的紅外光不敏感適合低真空使用TESCAN 設(shè)計(jì)了不同類(lèi)型的閃爍體探測(cè)器，依據(jù)儀器型號(hào)不同，或標(biāo)配或選配。背散射電子探測(cè)器選項(xiàng)：

配備晶體閃爍體，具有高靈敏度和高原子序數(shù)分辨率（ 0.1 Z ），極大地提高了成像質(zhì)量。探測(cè)器的檢測(cè)區(qū)域大，在快掃描速度時(shí)依然能保證高質(zhì)量采集圖像。
相對(duì)傳統(tǒng)半導(dǎo)體材質(zhì)，閃爍體探測(cè)器具有明顯的優(yōu)勢(shì)：

成像速度高達(dá) 20 ns / pixel溫度穩(wěn)定性（無(wú)信號(hào)漂移）低噪聲，超清晰成像對(duì)樣品倉(cāng)相機(jī)的紅外光不敏感適合低真空使用

TESCAN 設(shè)計(jì)了不同類(lèi)型的閃爍體探測(cè)器，依據(jù)儀器型號(hào)不同，或標(biāo)配或選配。