北京彼奧德電子技術(shù)有限公司成立于2003年，是一家集項(xiàng)目研發(fā)產(chǎn)品生產(chǎn)技術(shù)咨詢等服務(wù)于一體的自主創(chuàng)新型企業(yè)目前自行研發(fā)生產(chǎn)并擁有專利權(quán)的產(chǎn)品包括：孔徑及比表面積分析設(shè)備真密度分析設(shè)備化學(xué)吸附分析設(shè)備微型模擬反應(yīng)器等主營(yíng)產(chǎn)品包括：比表面及孔徑分析儀（包括MFA-100系列SSA-7000系列SSA-4000系列產(chǎn)品）；快速比表面積分析儀（包括KUBO-1000系列SSA-3000系列產(chǎn)品）真密度分析儀（包括TD-2000系列STD-3000系列產(chǎn)品）；化學(xué)吸 BET測(cè)試?yán)碚撌歉鶕?jù)希朗諾爾埃米特和泰勒三人提出的多分子層吸附模型，并推導(dǎo)出單層吸附量Vm與多層吸附量V間的關(guān)系方程，即著名的BET方程BET方程是建立在多層吸附的理論基礎(chǔ)之上，與物質(zhì)實(shí)際吸附過程更接近，因此測(cè)試結(jié)果更準(zhǔn)確通過實(shí)測(cè)3-5組被測(cè)樣品在不同氮?dú)夥謮合露鄬游搅?，以P/P0為X軸， 為Y軸，由BET方程做圖進(jìn)行線性擬合，得到直線的斜率和截距，從而求得Vm值計(jì)算出被測(cè)樣品比表面積理論和實(shí)踐表明，當(dāng)P/P0取點(diǎn)在0.35-0.05范圍內(nèi)時(shí)，BET方程與實(shí)際吸附過程相吻合，圖形線性也很好，因此實(shí)際測(cè)試過程中選點(diǎn)在此范圍內(nèi)
BET方程如下：
(3)
式中： P: 氮?dú)夥謮?br> P0: 液氮溫度下，氮?dú)獾娘柡驼羝麎?br> V: 樣品表面氮?dú)獾膶?shí)際吸附量
Vm: 氮?dú)鈫螌语柡臀搅?br> C : 與樣品吸附能力相關(guān)的常數(shù)
BET實(shí)驗(yàn)操作程序與直接對(duì)比法相近似，不同的是BET法需標(biāo)定樣品實(shí)際吸附氮?dú)饬康捏w積大小，理論計(jì)算方法也不同BET法測(cè)定比表面積適用范圍廣，目前國(guó)際上普遍采用，測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確性和可信度高，特別適合科研單位使用當(dāng)被測(cè)樣品吸附氮?dú)饽芰^強(qiáng)時(shí)，可采用單點(diǎn)BET方法，測(cè)試速度與直接對(duì)比法相同，測(cè)試結(jié)果與多點(diǎn)BET法相比誤差也不大 超低比表面積及微孔比表面積分析儀 全自動(dòng)比表面和孔徑分布分析儀 相關(guān)產(chǎn)品