集成電路測(cè)試儀 集成電路測(cè)試儀是對(duì)集成電路進(jìn)行測(cè)試的專用儀器設(shè)備。集成電路測(cè)試是保證集成電路性能、質(zhì)量的關(guān)鍵手段之一。集成電路測(cè)試儀按集成電路分類：數(shù)字集成電路測(cè)試儀和模擬集成電路測(cè)試儀；集成電路測(cè)試儀按功能分類：集成電路功能測(cè)試儀和集成電路參數(shù)測(cè)試儀；集成電路測(cè)試儀按形式分類：便攜式集成電路測(cè)試儀和臺(tái)式集成電路測(cè)試儀。 精品推薦
品牌： 美國(guó)inTEST 型號(hào)： CobalTM系列 產(chǎn)地：美國(guó) 供應(yīng)商：香港電子器材有限公司

產(chǎn)品簡(jiǎn)介CobalTM系列機(jī)械手臂 (Test head manipulator) ● 適用于支撐和固定半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)的機(jī)械手臂 測(cè)試信號(hào)傳輸模塊 (Test interfaces) ● 適用于所有半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)的晶圓測(cè)試信號(hào)傳輸模塊 Centuar 測(cè)試信號(hào)傳輸模塊 Centuar SOC440多通道測(cè)試連接裝置J750測(cè)試信號(hào)傳輸模塊測(cè)試整合工具(Docking hardware) ● 連桿式Hard docking組合   inTEST主要產(chǎn)品 在集成電路測(cè)試領(lǐng)域，通過使用inTEST的支撐手臂(manipulator)和測(cè)試整合工具(docking hardware)能有效提高ATE（測(cè)試系統(tǒng)）的利用率以及使用靈活性，并長(zhǎng)期保持系統(tǒng)整合的穩(wěn)定性，有效提高測(cè)試結(jié)果的精確性和完整性, 從而減少測(cè)試系統(tǒng)的維護(hù)成本，同時(shí)保護(hù)其他易損的測(cè)試組件。作為集成電路測(cè)試信號(hào)傳輸技術(shù)的領(lǐng)導(dǎo)者，inTEST提供超高保真的測(cè)試信號(hào)傳輸路徑，靈活的模塊化設(shè)計(jì)，幫助實(shí)現(xiàn)可靠的測(cè)試，從而降低測(cè)試成本。 

品牌： 美國(guó)HILEVEL 型號(hào)： Griffin 系列 產(chǎn)地：美國(guó) 供應(yīng)商：香港電子器材有限公司

產(chǎn)品簡(jiǎn)介HILEVEL主要產(chǎn)品(Hi-Level專利)HILEVEL Dragon測(cè)試系統(tǒng) - 40Mhz測(cè)試頻率，最多配置256測(cè)試通道， 4Meg測(cè)試向量深度。 1Meg 運(yùn)行分析向量深度/每通道。HILEVEL Griffin 系列-測(cè)試頻率從50Mhz到100Mhz，可根據(jù)客戶應(yīng)用以及預(yù)算要求靈活選擇。 最多配置512測(cè)試通道，4Meg測(cè)試向量深度。 1Meg運(yùn)行分析向量深度/每通道。HILEVEL TITAN 測(cè)試系統(tǒng) -測(cè)試頻率100Mhz,最多配置1024測(cè)試通道。 4Meg 測(cè)試向量深度。 1Meg運(yùn)行分析向量深度/每通道。HILEVEL CurveMasterTM IV-測(cè)試系統(tǒng) -在聯(lián)接跟蹤系統(tǒng)來了新的技術(shù)和部件。 具備高至2,048針并在所有新的高精度DC參數(shù)上，CurveMasterTM低成本設(shè)備，成為用家最喜愛的實(shí)驗(yàn)室儀器！HILEVEL產(chǎn)品特性基于C++的填表式測(cè)試程序編輯，同時(shí)具備高階C語(yǔ)言編程，簡(jiǎn)單易學(xué)，非常容易上手。強(qiáng)大的在線培訓(xùn)軟件，圖形化的指示，可以隨時(shí)指導(dǎo)測(cè)試程序編輯。強(qiáng)大的工程驗(yàn)證工具。系統(tǒng)結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，非常容易維護(hù)。由測(cè)試板卡和測(cè)試頭組成，根據(jù)需求靈活配置通道板。通過USB線，測(cè)試頭可以和任意裝有HiLevel測(cè)試軟件的電腦連接使用，非常利于工程驗(yàn)證。系統(tǒng)無(wú)需校準(zhǔn)（NIST)。

集成電路測(cè)試儀 儀器網(wǎng)集成電路測(cè)試儀產(chǎn)品導(dǎo)購(gòu)專場(chǎng)為您提供集成電路測(cè)試儀功能原理、規(guī)格型號(hào)、性能參數(shù)、產(chǎn)品價(jià)格、詳細(xì)產(chǎn)品圖片以及廠商聯(lián)系方式等實(shí)用信息，您可以通過設(shè)置不同查詢條件，選擇滿足您實(shí)際需求的集成電路測(cè)試儀產(chǎn)品，同時(shí)集成電路測(cè)試儀產(chǎn)品導(dǎo)購(gòu)專場(chǎng)還為您提供精品優(yōu)選集成電路測(cè)試儀產(chǎn)品和集成電路測(cè)試儀相關(guān)技術(shù)資料、解決方案、招標(biāo)采購(gòu)等綜合信息。