原子力顯微鏡與拉曼聯(lián)用 AFM - Raman
原子力顯微鏡與拉曼聯(lián)用 AFM - Raman 作為一種新興的檢測(cè)手段, 可以在樣品成分和結(jié)構(gòu)方面提供新的信息. 原子力顯微鏡 - 拉曼聯(lián)用系統(tǒng)可以在納米尺度提供樣品形貌信息, 再結(jié)合拉曼圖像中獲得的化學(xué)信息, 可以對(duì)樣品進(jìn)行更加全面的表征. 上海伯東代理英國(guó) NanoMagnetics 原子力顯微鏡可與各品牌拉曼測(cè)試儀聯(lián)用.
原子力顯微鏡與拉曼聯(lián)用優(yōu)勢(shì)
可測(cè)量分子尺度的物理屬性并在亞微米尺度上實(shí)現(xiàn)化學(xué)結(jié)構(gòu)的分析
拉曼和 AFM 同步測(cè)量確保了圖像之間的真實(shí)相關(guān)性
同時(shí)集成了拉曼光譜儀和原子力顯微鏡的功能, 可在同一個(gè)樣品上, 以相同的位置, 相同的時(shí)間采集拉曼光譜和 AFM 數(shù)據(jù), 可在納米尺度上研究材料的組成, 結(jié)構(gòu)和特性, 且能消除因樣品表面特性隨著時(shí)間而發(fā)生變化對(duì)檢測(cè)結(jié)果造成的影響.
客戶案例: 上海某大學(xué)老師通過原子力顯微鏡進(jìn)行硅片表面形貌測(cè)量和表面粗糙度測(cè)量, 便于后續(xù)進(jìn)行拉曼增強(qiáng).
硅片表面形貌成像圖

硅片表面粗糙度成像圖

原子力顯微鏡測(cè)試條件