上海伯東英國(guó) NanoMagnetics 原子力顯微鏡應(yīng)用
上海伯東代理英國(guó) NanoMagnetics 原子力顯微鏡主要應(yīng)用于材料科學(xué), 聚合物科學(xué), 半導(dǎo)體工業(yè)領(lǐng)域. 與 STM 對(duì)比 AFM 原子力顯微鏡可以觀測(cè)非導(dǎo)電樣品, 應(yīng)用范圍更廣.
在材料科學(xué)領(lǐng)域原子力顯微鏡不但可以獲得材料表面的3D形貌, 表面粗糙度和高度等信息, 而且可以獲得材料表面物理性質(zhì)分布的差異, 例如摩擦力, 阻抗分布, 電勢(shì)分布, 介電常數(shù), 壓電特性, 磁學(xué)性質(zhì)等. 如下圖是 ezAFM 多壁碳納米管成像圖.

在聚合物科學(xué)領(lǐng)域原子力顯微鏡可以獲得表面的結(jié)構(gòu)以及材料表面物理性質(zhì), 對(duì)樣品進(jìn)行加熱, 可以研究聚合物的相變過程; 結(jié)合環(huán)境腔, 可以研究有機(jī)溶劑氣氛下聚合物表面結(jié)構(gòu)演變過程, 有助于解釋聚合物失效機(jī)理. 如下圖是 ezAFM 聚酯纖維成像圖.
PS: 聚酯纖維樣本由 Aylin Sendemir 博士提供, 愛丁堡大學(xué)
在半導(dǎo)體工業(yè)領(lǐng)域原子力顯微鏡可以檢測(cè)基片表面拋光缺陷, 圖形化結(jié)構(gòu), 薄膜表面形貌以及定量的表面粗糙度數(shù)據(jù)和深度信息, 同時(shí)可以檢測(cè)表面缺陷 ( 比如電流泄漏, 結(jié)構(gòu)缺陷, 晶格錯(cuò)位, 缺陷密度和傳播等 ) 以及表面阻抗, 電勢(shì)分布, 介電常數(shù), 摻雜濃度等, 有利于半導(dǎo)體材料的可靠性,均一性和失效性分析. 如下圖是 ezAFM 硅片表面粗糙度成像圖.
PS: 硅片樣本由上海某大學(xué)提供
上海伯東代理英國(guó) NanoMagnetics 儀器, NanoMagnetics 儀器 1998年在牛津成立, 主營(yíng)原子力顯微鏡, 低溫掃描探針顯微鏡, 霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng), 振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)等, 適用于產(chǎn)品表面特征分析, 生命科學(xué), 原位成像, 材料科學(xué), 薄膜等領(lǐng)域. NanoMagnetics 儀器廣泛應(yīng)用于牛津大學(xué), 斯坦福, 京都大學(xué), NASA 等學(xué)府和科研院所.
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