HEMS 霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng)
上海伯東英國 NanoMagnetics 儀器 HEMS 霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng), 多樣品實(shí)驗(yàn), 非常適合材料研究等應(yīng)用.
HEMS 霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng)特點(diǎn)
多樣品實(shí)驗(yàn), van der Pauw 4接觸點(diǎn) ; Hall Bar 6接觸點(diǎn)
廣泛的材料: GaAs, lnP, lnAs, Si, Ge, SiGe, HgCdTe, GaN, SiC, AIN, 金屬氧化物和有機(jī)導(dǎo)體
非常適合于材料研究, 產(chǎn)品開發(fā)和質(zhì)量控制
樣品電阻率, 電阻率, 霍爾系數(shù), 霍爾遷移率, 載流子濃度或電流電壓特性
Windows 操作系統(tǒng)用于系統(tǒng)操作, 數(shù)據(jù)采集和分析
HEMS  霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng)可以測量
移動(dòng)測量
載流子測量
電阻率測量
Van der Pauw 測量
Hall Bar 測量
HEMS  霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng)極帽
可調(diào)極帽
25mm 面鉆
連續(xù)可調(diào) 0-1, 30mm 的極隙
可選 50mm, 75mm 更大的鉆心
電磁鐵:
2.ST@ I 0mm 間隙與 25mm 桿面
35V, 70A 線圈
磁場 IT @ 25mm 極隙
磁場強(qiáng)度高, 磁極間距大
串聯(lián)線圈電阻: 0.5 0 ( 20℃ )
水冷
HEMS  霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng)樣品臺(tái):
彈簧加載設(shè)計(jì)選項(xiàng)
Van der Pauw 設(shè)計(jì)測量
四、六、八觸點(diǎn)廳桿測量設(shè)計(jì)
容易安裝樣品與彈簧銷
多個(gè)樣品安裝