QUELLTECH激光掃描儀Q6 發(fā)表時間：2019-06-19 11:17 作者：胤旭機(jī)電 來源：www.yinxu99.com 瀏覽：
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QUELLTECH激光掃描儀Q6

QuellTech激光掃描儀利用三角測量原理來檢測表面的二維輪廓。借助于特定的光學(xué)部件，將點狀激光束擴(kuò)展成一條線并投射到感興趣的物體上。反射激光線的漫射光被物鏡以一定角度捕獲，然后被引導(dǎo)到二維接收器芯片。

基于已知的距離和角度，計算x水平(激光線)中的每個像素的精確校準(zhǔn)高度值(z)，從而在樣本的xz平面中得到精確的輪廓。如果掃描儀在樣品(y軸)上被引導(dǎo)，則創(chuàng)建一系列輪廓，在空間中形成三維點云。該點云可以通過軟件執(zhí)行的尺寸控制。

Q6激光掃描儀，重型系列，可滿足最苛刻的測量任務(wù)

QuellTech Q6激光掃描儀非常適合工業(yè)應(yīng)用，在高移動速度下要求最高精度和工藝穩(wěn)定性：

高分辨率和輪廓速度為14.000個/ s，高達(dá)57 Mio點/秒

X-測量范圍從45到1200毫米

Z-測量范圍(高度)從15到800毫米

激光波長藍(lán)色405/450 nm，紅色650 nm

對于Q6激光掃描儀，可提供1 mW至160 mW的不同功率等級。為了最佳地適應(yīng)待檢查的表面，可以選擇功率等級和波長。

Q6激光掃描儀，更多屬性

分辨率低至0.24 m(數(shù)字分辨率)

非常光滑的材料的特殊算法

不同的高動態(tài)范圍(HDR) - 反射率差異很大的物體的模式

多斜率模式用于反射率差異很大的物體

不同的觸發(fā)模式，2個觸發(fā)輸入(編碼器輸入RS422)

在芯片上設(shè)置幾個測量窗口

自動跟蹤測量窗口

多掃描儀應(yīng)用程序的主從配置

用戶配置存儲在激光掃描儀中

在制造商現(xiàn)場進(jìn)行個別極其精確的校準(zhǔn)

外殼，防護(hù)系統(tǒng)IP67

* GenICam和GigEVision接口標(biāo)準(zhǔn)，用于連接已知的圖像處理軟件工具

軟件開發(fā)工具包