低溫霍爾效應(yīng)測量磁場應(yīng)用 KANG Static Insert SN 150
上海伯東代理英國 NanoMagnetics 儀器霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng)為 Van der Pauw 和 Hall Bar 測量提供了一個創(chuàng)新的解決方案. 可用于測量半導(dǎo)體材料的載流子濃度, 遷移率, 電阻率, 霍爾系數(shù), 導(dǎo)電類型等重要參數(shù), 是理解和研究半導(dǎo)體器件和半導(dǎo)體材料電學(xué)特性的必備工具.
如下是某知名大學(xué)低溫霍爾效應(yīng)測量案例
1. 測試樣品: NMI 標(biāo)準(zhǔn)樣品, P15-A
2. 應(yīng)用電流 1e- 4a
3. VDP 測量的外加磁場為 1T
4. 在 1.5K 時, 磁場掃描 為 0 - 5T - 0 循環(huán)
測試儀器

冷卻和加熱圖顯示了相同的結(jié)果, 因此, 塞諾克斯傳感器和樣品根據(jù)靜態(tài)插入的位置是合適的, 否則圖就不一樣了. 此外,測量結(jié)果是可重復(fù)的. [I+I-V+V-] 觸點引線為 [1-2-4-3]