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        X熒光光譜儀的放射源和探測器在相對位置不變的情況下，樣品位置的改變將會給測量結果帶來明顯的影響。 X熒光光譜儀對準樣品激發(fā)時最佳距離 在實際工作中，X熒光光譜儀探測器測定樣品的X射線熒光強度時，探測器與樣品之間的距離不同，記錄到的熒光強度也不一樣，所以必須在固定的幾何條件下進行測量工作。在哪種幾何條件下能得到最大的X射線熒光強度，保證較高的測量精度，對于探測器窗口直徑不同的儀器，最佳距離也不同，沒有一個固定的數(shù)值。 當放射源至樣品的距離很大時，放射源的初級射線在樣品表面的強度很小，所激發(fā)的X射線熒光強度也很小。 當放射源至樣品的距離很小時，樣品表面的放射源初級射線很強，但產(chǎn)生的熒光強度主要集中在放射源附近，產(chǎn)生的特征X射線被放射源本身擋住，不能被探測器記錄，熒光強度的記錄數(shù)值也就減小。 對于探測器窗口直徑不同的X熒光光譜儀，最佳距離也不同，在設計儀器時，會考慮到儀器的檢測距離，根據(jù)指示操作即可。