原子力顯微鏡是用于非常小的物體的表面特征映射和測量儀器
像是是一個(gè)人的頭發(fā)絲的截面（約80微米的直徑0.25納米（nm）或2.5埃直徑）。

原子力顯微鏡的基本原理

偏轉(zhuǎn)的幅度是從斜探頭年底角度反映了在激光測量。繪制對樣品表面上的尖端位置的激光偏轉(zhuǎn)創(chuàng)建一個(gè)表面的丘陵和山谷的“地圖”。這提供了顯微鏡的高分辨率圖像

原子力顯微鏡有兩種掃描模式,倒置生物顯微鏡。在接觸模式下，原子力顯微鏡的探針接觸樣品的表面。由于該儀器在表面的尖端拖動(dòng)，檢測設(shè)備措施懸臂的垂直偏轉(zhuǎn)。在非接觸模式下，原子力顯微鏡的探針不接觸樣品表面，它的措施針尖與表面之間的引力，繪制樣品表面。

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SEM只可以提供一個(gè)二維圖像或投影