掃瞄電子顯微鏡材料表面觀察分析技術(shù)簡(jiǎn)介

掃瞄探針顯微鏡分析技術(shù)可說(shuō)是近幾年來(lái)發(fā)展極為快速的一項(xiàng)表面分析技術(shù)，
除了有操作簡(jiǎn)單與維護(hù)容易的特點(diǎn)外，最主要的優(yōu)點(diǎn)

在于能直接且快速地提供關(guān)于材料表面特性的資訊，如硬度、平坦
度、電磁場(chǎng)、漏電流、光電性質(zhì)及壓電特性等高解析度訊號(hào)。隨著奈
米科技時(shí)代的來(lái)臨，許多表面分析需求已進(jìn)入奈米尺度，掃瞄探針顯
微鏡自然成為奈米科技時(shí)代不可或缺的表面分析工具之一，其各項(xiàng)應(yīng)
用之中，以應(yīng)用于材料表面形貌觀察及物性量測(cè)的原子力顯微鏡最為人所知