IR顯微光譜學應用于纖維、涂料的辨別

顯微鏡IR顯微光譜學 IR microscopy

對于物理尺寸在10至500 mm范圍的樣品，可以使用IR顯微光譜法來觀測樣品中物種之吸收光譜或者反射光譜

IR顯微鏡首先在1980年代，由幾家儀器制造商所推出的
 
IR顯微鏡通常是由兩具顯微鏡所構成的，其中一具是一般的光學顯微鏡，
另一具則是具有反射光學部分的IR裝置，而能夠將IR光束的大小減少到與樣品的尺寸相近。

光學顯微鏡通常被使用來觀察，預備以IR光束研究之樣品顆?；蛘邩悠钒唿c的位置。
IR光源通常是一具傅立葉轉換光譜儀，而不是光柵型儀器。

偵檢器通常是比其他IR偵檢器類型更為靈敏的液態(tài)氮冷卻式碲化汞–碲化鎘光導電裝置。

在目前，它的一些用途包括有，針對聚合物污染、聚合物薄膜之缺失、
與薄層式聚合物薄板之個別層面等各項，進行辨識工作；針對纖維、涂料、
進行辨識工作；對電子組件之污染物進行辨識工作等等