表面粗糙度測(cè)量?jī)x器研發(fā)，提升表面粗糙度分析與檢測(cè)技術(shù)能力，
以及相關(guān)應(yīng)用技術(shù)之推展。

先進(jìn)的表面粗糙度分析及量測(cè)技術(shù)，并確認(rèn)與推展符合未來(lái)市場(chǎng)需求之表面粗糙度標(biāo)準(zhǔn)，

相關(guān)應(yīng)用開(kāi)發(fā)

微、納米表面粗糙度
粗糙度量測(cè)設(shè)備與方法
表面粗糙度校正與追溯
原子力顯微術(shù)、探針掃描式顯微術(shù)
磨潤(rùn)學(xué)與磨耗
接觸式或光學(xué)式表面粗度量測(cè)儀器
半導(dǎo)體線寬與邊緣粗糙度
表面粗糙度之其他應(yīng)用