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太陽能電池的研究適合使用電子顯微鏡

在太陽能電池的研究上是一個非常重要的部分。
透過不同的制程條件處理，如高溫退火、外加電場極化等，可以改變薄膜內(nèi)部形態(tài)結(jié)構(gòu)，
形成具規(guī)則性的排列，進(jìn)而提升太陽能電池光電轉(zhuǎn)換效率。這些
薄膜內(nèi)部的規(guī)則性排列區(qū)域大小多半在次微米之下。對于這些區(qū)域的表面形態(tài)，

通常能夠利用高解析度的穿透式電子顯微鏡(transmission electron microscope, TEM)、
掃描式電子顯微鏡(scanning electron microscope, SEM) 和原子力顯微鏡(atomic
force microscope, AFM) 來了解。但這類微小區(qū)域的光學(xué)性質(zhì)，
進(jìn)展往往卻受限于光學(xué)繞射的極限而收住