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偏反光顯微鏡研究細節(jié)的顯微結構特征,相襯技術簡介

  使用偏反光顯微鏡研究顯微結構時，亦不能忽視干涉顯微術的作用。
例如，以微差干涉理論為基礎所設計的相襯顯微鏡，

即可觀察到材料表面高度的最小階梯為23，
若使用諾馬斯基((C·Nomarsky)偏光干涉器，則可得到全象分離的效果，
其測量范圍可達0.01一1μm.特別應當提到.Interphac。

干涉顯微鏡可使用連續(xù)變象分離的剪象法，
不僅功能全，精密度高，而且轉換調節(jié)方便，是用光學方法研究顯微結構特征
的有力工具。許多在偏反光顯微鏡卜難以區(qū)別的物相，

以及某些屬于細節(jié)的顯微結構特征.都能得到很好的區(qū)別和發(fā)現(xiàn)